光学式パイロメーター CellaWafer PA 38

デジタル°C°F

製品概要：
CellaWafer PA 38 は、ウェーハおよび金属の非接触温度測定用デジタル放射温度計で、測定範囲は 450～1800 °C です。非常に短波長かつ狭帯域のスペクトル応答により、シリコンウェーハのプロセス（例：RTP）やタングステン、モリブデンなどの金属測定に適しています。設計により被測体の放射率変化に対する感度が低く、量産環境で安定した測定を実現します。

主な特長：

• 測定範囲 450～1800 °C
• 測定距離を正確に調整できる可変焦点の交換レンズ
• 広帯域反射防止精密光学系
• 短波長・狭帯域スペクトル（0.88 µm）
• シリコンウェーハおよび金属の精密測定に最適化
• 視認性の高い4桁LED表示、遠距離からも読取可能
• 診断用の試験電流出力
• 標準インターフェース：アナログ出力、USB、RS‑485

選択可能な仕様 / 典型構成：

• 測定範囲：450 – 1800 °C
• 焦点距離（例）：0.3 m – ∞（レンズ依存）
• 照準オプション：レンズ透過式照準 / 内蔵ビデオカメラ / レーザーパイロット
• 型式例：CellaWafer PA 38 AF 10

標準添付品（典型）：

• 放射温度計 CellaWafer PA 38
• 接続ケーブル VK 02/A（5 m）
• 内蔵カメラモデル用ビデオケーブル VK 02/F（5 m）
• USB ケーブル VK 11/D（1.8 m）
• ソフトウェア CellaView
• 簡易マニュアル

製品ページの注意点 / ツール：

• 測定スポット径計算機（距離に対するスポット径例）
• 放射率計算機および放射率設定機能
• カメラ機能のビデオデモ

主な仕様（抜粋）：

• 品番：1124957
• PGB 番号：500
• 測定原理：単色（one‑colour）
• 測定範囲：450 – 1800 °C
• 波長範囲：0.88 µm
• センサー：フォトダイオード
• 応答時間 t98：≤ 50 ms（T > 650 °C）；≤ 2 ms（T > 850 °C）
• 測定不確かさ：読み値の 0.3 %、最小 4 K
• 再現性：1 K
• 距離比（D:S）：60 : 1
• 測定フィールド形状：円形
• 代表レンズ：PA 20.08（例：F50 PZ 20.08 — 焦点 0.3 m – ∞）
• アナログ出力：0(4) – 20 mA、線形、切替可、スケーラブル；R ≤ 500 Ω
• アナログ入力：0 – 10 V
• スイッチ出力：2 × オープンコレクタ 24 V DC、≤ 30 mA
• スイッチ入力：2 × 最大 24 V
• インターフェース：USB、RS‑485
• 電源：24 V DC（+10 % / −20 %）；消費電流 ≤ 175 mA
• ビデオ出力（カメラオプション）：コンポジット PAL
• 表示：赤色4桁LED、文字高 8 mm；状態表示：2 × LED；操作：3ボタン
• コネクタ：M12、8ピン
• 周囲温度（動作）：0 – 65 °C；保管：−20 – +80 °C
• 許容湿度：最大 95 % r.H.（結露なきこと）
• 筐体：ステンレス鋼 V2A（1.4305）；保護等級：IP65
• 寸法：Ø 65 mm × 220 mm（最大 277 mm）；質量：約 0.9 kg
• 調整可能パラメータ（例）：測定範囲、アナログ I/O スケール、平滑化フィルタ、放射率／透過率、反射環境放射補償、アラーム限界、線形化、LED 振る舞い、シミュレーション、単位 °C/°F；カメラモデル：TBC、ホワイトバランス
• 機能（例）：過温度信号（内部温度 > 80 °C の場合アナログ出力 > 20.5 mA）、サービス用値のシミュレーション、断続プロセス向け ATD（自動温度検出）
• ソフトウェア：CellaView