研究室用データ取り込みシステム
スマ-トデジタルデータ記録機能付

研究室用データ取り込みシステム - leetx - スマ-ト / デジタル / データ記録機能付
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特徴

応用
研究室用
オプションとアクセサリー
デジタル, データ記録機能付, スマ-ト

詳細

概要
各プレスサイクルにおけるプロセスの集中監視と品質評価。システムは力−変位データをリアルタイムで取得し、品質評価のための組込み解析ツールを提供し、生産のトレーサビリティをサポートします。

主要なパフォーマンス指標
  • サンプリング数:495000 サンプル
  • サンプリング周波数:10 kHz
  • 連続リアルタイム収集時間:30 分

製品の特長と利点
  • リアルタイムプロセス解析:製品の一貫性を確認するライブ曲線比較、インフレクションポイント検出、組立時間・速度・平均値の自動計算。
  • プロセス管理:プロセスパラメータの選択的バックアップ、詳細ソート付きオンライン曲線比較、迅速な評価ウィンドウと曲線キャリブレーション。
  • 全行程監視:プレスサイクルの各フェーズにトリガーゾーンを定義して動作全体を制御。
  • 直感的なソフトウェア:パラメータ設定を簡素化した二層メニュー構造で、習熟に要する時間が短い。
  • インフレクションポイント検出:プロセス遷移を自動で識別し、サイクル中間でのトリガーや品質判定に使用。
  • 適応減速制御:部品特性に応じてアプローチ速度を調整するアルゴリズムにより、力のオーバーシュートを1%以内に抑制。

インターフェース表示
  • 曲線のリアルタイム表示
  • 包括的で多用途な表示
  • オンライン評価機能の表示
  • 力の閉ループ機能の表示

関連用途
  • 民生用電子機器
  • 自動車
  • 自動車部品
  • モータ制御
  • 動力用バッテリー
  • ラボ試験

仕様 / 技術仕様
  • 取得データ種別:力−変位データ(リアルタイム)
  • サンプリング数:495000 サンプル
  • サンプリング周波数:10 kHz
  • 連続収集時間:最長 30 分
  • 組込み解析ツール:曲線比較、インフレクション検出、時間/速度/平均値計算
  • プロセス制御:プレスサイクル各フェーズのトリガーゾーンによる全行程監視
  • ソフトウェア:パラメータ設定を簡素化する二層メニュー構造
  • 適応制御:力のオーバーシュートを1%以内に制御する減速アルゴリズム
  • トレーサビリティ:生産全体のトレーサビリティとプロセスパラメータの選択的バックアップに対応
*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。