標本準備システム EM RES102

ライカEM RES102は、試料の薄膜化、洗浄、研磨、斜面のカット、構造化など、最高レベルの柔軟性を備えています。独自のイオンビームミリングシステムは、TEM、SEM、LMサンプルの前処理を1台のベンチトップユニットで行うことができます。 多彩なサンプルホルダーにより、多様なアプリケーションに対応します。ライカEM RES102は、高エネルギーのイオンビームミリングに加えて、低エネルギーのイオンビームを使用した非常に穏やかなサンプル処理にも使用できます。 主な特徴 効果的で費用対効果が高い - TEM、SEM、LMアプリケーションのための1つのシステム - 直径25mmまでのサンプルのSEM前処理 - TEM分析用の大面積電子透過領域の作製によるTEM試料作製の効率化 - リモートコントロールと監視のためのLAN機能 安全な 完全にプログラム制御された電動イオン源とサンプルの動きで再現性の高い結果を実現 在来標本 温度に敏感なサンプルの完全性を維持するためのLN2サンプルステージ冷却 簡単操作 - 統合されたアプリケーションライブラリ - 初心者やメンテナンスのための統合されたヘルプファイルとチュートリアルビデオ