ポリマー標本準備システム EM ACE900
走査型電子顕微鏡用

ポリマー標本準備システム - EM ACE900 - Leica Microsystems GmbH/ライカ - 走査型電子顕微鏡用
ポリマー標本準備システム - EM ACE900 - Leica Microsystems GmbH/ライカ - 走査型電子顕微鏡用
ポリマー標本準備システム - EM ACE900 - Leica Microsystems GmbH/ライカ - 走査型電子顕微鏡用 - 画像 - 2
ポリマー標本準備システム - EM ACE900 - Leica Microsystems GmbH/ライカ - 走査型電子顕微鏡用 - 画像 - 3
ポリマー標本準備システム - EM ACE900 - Leica Microsystems GmbH/ライカ - 走査型電子顕微鏡用 - 画像 - 4
お気に入りに追加する
商品比較に追加する

特徴

応用
ポリマー, 走査型電子顕微鏡用

詳細

非晶質凍結した構造体は、環境の影響を非常に受けやすく、アーティファクトの形成を防ぐ必要があります。詳細な画像評価を行うために最適な条件下で試料を作製します: 試料の周囲のコールドシールドが、試料表面で水分子が凍結するのを防止 • - プロセス全体を通して正確な温度制御 • - 清浄な割断ナイフ - 割断ごとにナイフの新しい部位を使用してコンタミネーションを防止 • - 瞬時に高速でビームコーティングを施すことができるため詳細な表面情報を取得 • - 保護された真空搬送で他の分析装置へ搬送

カタログ

Leica EM ACE900
Leica EM ACE900
12 ページ
Leica EM AFS2
Leica EM AFS2
8 ページ
*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。