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特徴
物質的特性
幾何学, 粗度
技術
視覚, 3D
その他の特徴
無接触, コンピューター数値制御(CNC), マルチ センサー, 高解像度, 白色光
詳細
- ビジョンシステムと白色光干渉計(WLI)による非接触測定。 - ビジョンセンサによる簡単なアライメントと位置決め - ビジョンシステムによるQVPAKのフル機能 - 表面粗さ解析などの高解像度トポグラフィ評価のためのWLIシステムによる機能強化。
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