CIFOSは、光学系のセンタリング公差を測定・チェックするための測定装置です。光学系の直径、表面半径、各表面のコーティングなど、チェックすべきレンズシステムの重要なポイントをお知らせください。
測定原理
高精度オートコリメータとアタッチメント光学系の助けを借りて、光学系の表面の曲率中心と測定ステージの回転軸間の距離を測定します。この目的のために、アタッチメント光学系付きオートコリメータは、アタッチメント光学系の焦点と被測定面の曲率中心の像が一平面上に位置するまで回転軸に沿って移動される。この円の直径は、回転軸に対する表面の傾きを決定するための直接的な指標となります。
光学的に非有効な面の参照
レンズやレンズマウントのエッジシリンダーをレファレンシングに使用することができます。端面の測定は、表面のセンタリングの測定と平行して行われ、触覚または非接触で行うことができます。円筒面だけでなく、例えば水平な接触面も触覚または非接触で測定・参照することができます。
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