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光学顕微鏡 Eclipse LV100ND
研究所用測定検査用

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Nikon Metrologyのサイトについての詳しい情報

特徴

タイプ: 光学
応用: 研究所用, 測定, 検査用, 産業用, 金属, 素材研究用, 医療用, 品質管理用, 非金属介在物検査用, 3軸式無接触測定用, 薄膜測定用, 多目的, オンラインウェハー検査用, 深度計測用
エルゴノミクス: 正立型
顕微鏡のヘッド: 双眼, 三眼
観察技術: 明視野式, 蛍光, 位相差, 暗視野式, 偏極, 赤外線, 差動微分干渉コントラスト
構成: 卓上
光源: LED照明, 同軸照明
その他の特徴: 人間工学, デジタルカメラ, 高解像度, 高精度, 3 軸, 研磨サンプル用, モーター式, 低温, 高増粘性, 自動, ファイバー光学検査用, 光強度制御付き, 走査型音響, 特殊照明付, 可変温度式, USB接続, モジュール式, 画像キャプチャー, 顕微鏡およびプロフィロメーター統合用, アスベスト認識用, ウェハー用, 長距離作業式, 地形測量用, 高コントラスト, 高解像度, スライディングステージ, 画像処理用, 計量システムべース白色光干渉計付, リアルタイム, 費用対効果が高い, ナノテクノロジー用, フラットサンプル用, 半導体用, 簡易設置
重量: 9.5 kg
(20.9 lb)
長さ: 362 mm
(14.3 in)
幅: 251 mm
(9.9 in)
高さ: 506 mm
(19.9 in)

詳細

多彩な反射・透過照明観察に対応した正立顕微鏡シリーズ。電子部品や材料の検査をはじめ、幅広い分野でお使いいただける工業用顕微鏡です。汎用性の高い反射/透過照明併用正立顕微鏡ニコンCFI60-2の優れた光学系により、目視観察とデジタルイメージングのどちらにおいても優れた画像を提供。さまざまな産業分野向けの工業顕微鏡の用途に合わせ、観察方法/目的に応じたスタンド部や照明部の選択を可能にし、多彩な観察方法に対応します。 ECLIPSE LV100NDA / LV100ND 電子部品、素材‧材料、光学部品などさまざまな用途でお使いいただける、反射‧透過照明を備えた工業顕微鏡です。 CFI60-2対物レンズニコンの革新的な設計により、高NAと長作動距離を両立。クリアな明視野、暗視野、簡易偏光、微分干渉、位相差観察を高い操作性で行えます。顕微鏡デジタルカメラ Digital Sightシリーズ高精細な顕微鏡画像を撮影。対物レンズ、倍率切替え設定情報をNIS-ELEMENTSで取得し、適切なキャリブレーションデータを自動変更することで画像計測や解析機能を効率的にお使いいただけます。＊LV100NDの場合は状態検出レボルバー、または電動レボルバ―/レボルバーコントローラーとの組合せ時。