光学ステレオ顕微鏡 MM series

測定検査用品質管理用

製品概要
工業用の測定および画像解析用途向けに設計された高精度な手動測定顕微鏡のシリーズ。2Dおよび3Dの形状検査、測定、検証において再現性の高いデータ取得と使いやすいワークフローを提供します。

高精度な構造
精密な機械構造とデジタル制御により、高い測定精度と安定した繰り返し性を実現し、ライン中の検査や品質保証用途に適します。長寿命で複数の操作員間でも安定した性能を保つ設計です。

光学性能
Nikon CFI60-2 対物レンズシステムは長い作動距離、フラットフィールド、高コントラスト像を提供し、テレセントリック設計により測定誤差を低減します。明視野、暗視野、偏光（POL）、微分干渉（DIC）をサポートし、低コントラスト部の精密測定が可能です。

照明
白色および緑色の切替可能な真のLED透過照明を搭載（フィルター不要）。光量は本体またはPC経由で制御可能。LEDは色温度が安定しており、ランプ交換を不要にします。

ステージと処理能力
MM-800N向けに6種類のステージを用意（12" x 8" / 300×200 mm 〜 2" x 2" / 50×50 mm）。MM-400Nは最大6" x 4"（150×100 mm）までの3つの小型ステージに対応。大型ステージには微小回転制御を備え、精密な位置合わせが可能です。MM-800Nは大型・重量物のワークにも対応します（例：XYストローク300×200 mm、質量最大約20 kg、ステージガラス上方高さ200 mm）。

コントローラとソフトウェア
MMコントローラインターフェースはLED照明設定、XY座標、Z軸データをDP-E1Aデータ処理装置およびE-MAXソフトウェアに転送します。DP-E1Aは精度と操作性を両立し、教育ファイルや測定ファイルはUSBで出力可能。E-MAXは統一GUIで測定支援、データ処理、結果のエクスポートを提供します。

モジュール性とアクセサリ
2つの光学構成オプションと豊富な専用アクセサリを備えたモジュール式システムにより、測定性能や検査ワークフローを最適化できます。オプションのフォーカスエイド（FA）はパターンを投影してZ軸の再現性のあるフォーカスを支援します。

主な特長

• 精密で再現性の高い機械構造、長寿命設計
• Nikon CFI60-2 対物系：長作動距離、テレセントリック光学、複数のコントラストモード（BF、DF、POL、DIC）
• 白・緑切替の真のLED透過照明、機器またはPCから光量制御可能
• 透過照明に絞り制御を備え、コントラスト・解像度を最適化
• 豊富なステージラインナップ（MM-800N：6種類、MM-400N対応の小型3種類）
• 大型ステージには微小回転制御を装備し精密なアライメントが可能
• 大型・重量物対応（例：MM-800N 300×200 mm、最大約20 kg、200 mm高さ）
• MMコントローラインターフェースでステージ・照明データをDP-E1A/PCへ転送
• DP-E1AおよびE-MAXで測定処理とUSB出力が可能
• オプションのFAによりZ軸の繰り返し性を向上

用途
電子部品（ワイヤーボンド高さ）、コネクタのピン・ソケット、その他正確な2D/3D測定と検証を必要とする部品の検査・寸法測定に適します。

技術仕様

• シリーズ名：MM-400N / MM-800N
• 測定タイプ：2Dおよび3D特性測定、画像解析
• 対物系：Nikon CFI60-2（BF、DF、POL、DIC対応）
• 照明：LED透過照明（白・緑）、機器またはE-MAXで光量制御可能
• 絞り制御：透過照明の絞りでコントラスト/解像度最適化
• ステージ例：MM-800N 12" x 8"〜2" x 2"（300×200 mm〜50×50 mm）、MM-400Nは最大150×100 mmまでの小型ステージ対応
• ステージ機能：大型ステージに微小回転制御
• 最大ワーク容量（例）：MM-800N 最大約20 kg、ステージガラス上方200 mm
• データ処理：DP-E1A、E-MAXソフトウェア（GUI、処理、エクスポート）
• 接続/出力：学習ファイル・測定ファイルをUSBで出力（DP-E1A）
• オプション機能：フォーカスエイド（FA）によるZ測定の再現性向上
• システム：モジュラー構成で豊富なアクセサリ対応