PA32IXは、PXIベースのデジタル計測器の新しいレベルの性能と機能を提供します。各カードは独立したデジタル・サブシステムとして機能するほか、必要に応じて複数のカードを相互接続し、最大512本の双方向ピン(16ボード)をサポートします。また、PA32IXは、64Mのオンボード・ベクタ・メモリを搭載し、最大50MHzのテスト・レートで、ピンごとのスタティックな方向制御を行うことで、ディープ・パターン・メモリをサポートしています。新しい64Mキャプチャ・メモリにより、PA32IXは32チャンネルのデータ・ログをキャプチャできます。
特徴
PA32IXは、チャネルごとに-0.5~+3.5 VTH、チャネルごとにVIH/VILをサポートします。PA32IXは、1、2ドライバTGエッジ、1ストローブTGエッジを提供し、4つのドライブデータフォーマットをサポートします:RTZ(Return To Zero)、RTO(Return To One)、NRZ(Non Return To Zero)、SBC(Surround By Complement)の4つのドライブ・データ・フォーマットをサポートしており、ボードやボックス・レベルの製品をテストするためのさまざまなバス・サイクルや波形を柔軟に作成できます。
オンボードメモリ
PA32IXはチャンネルあたり64Mのベクタメモリを提供します。
互換性
すべてのOpenATE Interfaces PXIカードは、PXI仕様2.0(2000年8月発行)に準拠しています。
ソフトウェア
PA32IXにはAPIとパターンエディタが付属しています。
Pattern Editorはテストパターンを編集するソフトウェアツールです。
アプリケーション
- デジタルパターンのキャプチャ
- デジタルパターン生成
- ハイブリッドおよびデジタルICテスト
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