蛍光分光器 NEX DE VS

EDXRFプロセス検査用

NEX DE VS 高性能の小型（可変）スポットベンチトップEDXRF 元素分析装置である新しいリガクNEX DE VSは、学習しやすいWindows® ベースのQuantEZソフトウェアで幅広い要素カバレッジを提供します。 固体、薄膜、合金から粉末、液体、スラリーまで、ほぼすべてのマトリックスのナトリウム（Na）からウラン（U）までの小さなスポット分析。 フィールド、プラントまたはラボでの蛍光 X 線分析元素分析プラント フロアまたはリモートフィールド環境のいずれにおいても、重工業用に特に設計および設計されており、NEX DEの優れた分析力、柔軟性、および使いやすさにより、拡大し続ける範囲に対して幅広い魅力が加わります。 探査、研究、バルク RoHS 検査、教育、および産業および生産監視アプリケーションを含むアプリケーションです。 基本的な品質管理（QC）、分析品質管理（AQC）、品質保証（QA）、シックスシグマなどの統計的プロセス制御など、より洗練されたバリエーションが必要な場合でも、NEX DEは、XRFによる日常的な元素分析のための信頼性の高い高性能な選択肢です。 60kVのX 線管とSDD 検出器を備えたXRF 60kVのX 線管とペルチェ冷却 FAST SDD® シリコンドリフト検出器は、優れた素子ピーク分解能で、優れた短期的な再現性と長期的な再現性を実現します。 この高電圧能力（60kV）は、高放出電流および複数の自動 X 線管フィルタとともに、広範囲のXRFアプリケーションの汎用性と低い検出限界（LOD）を提供します。