据え置き型厚さ計 SK-tFTM-IR series

フィルム用シート材料スペクトル反射式

赤外線シート厚みモニターは、バッテリーセパレーターなどの透光性シート、ブラックレジストなどの低反射コーティング、シリコンの厚みを測定する装置です。ラボレベルから生産現場でのインライン100％検査まで、あらゆる用途に使用できます。赤外線吸収システムは、透過型光学系を備えた小型ミラープローブで構成されており、100以上の波長で膜厚、密度、組成などの複数のパラメータを同時に測定することができる。 1 光干渉式では難しかった半透明シート、低反射フィルム、シリコンなどの膜厚を測定可能 2 コンパクトなプローブ 30mmの小型反射型プローブを採用することで、装置や生産ラインなどの狭いスペースに設置することが可能です。また、プローブと本体との接続は光ファイバーケーブルのみであるため、耐環境性にも優れています。 3 高速測定 950nm～1650nmの近赤外線波長を100点以上同時サンプリング可能 4 厚み測定再現性 0.1%以下(3σ) 5 測定アルゴリズム