携帯型厚さ計 LS225+F500

銅金属材料

10μm以下の極薄メッキの測定に対応。 デジタル発振技術採用 連続測定対応 1-5点校正対応 LS225+F500 はホストとプローブが分離しためっき膜厚計です。LS225+F500 マルチプローブ膜厚計ホストと F500 プローブで構成されています。LS225+F500 は、鉄やその他の強磁性金属基板上の銅、亜鉛、スズ、クロム、非磁性皮膜の検出に使用します。この膜厚計は、超高精度な測定精度と再現性を備えています。10μm以下の超薄膜の厚さ測定にも使用できます。LS225+F500 は、金属加工産業、ハードウェア産業、その他の産業で広く使用されており、特に最小測定エリア直径がわずか 7 mm の小型材料の測定に適しています。 LS225+F500 めっき厚さ計は、金属加工産業、ハードウェア産業、その他の産業で広く使用されています。 ディスプレイ - 240×160 ドットマトリックス LCD 電源 - 1.5V AAAアルカリ乾電池4本使用 操作温度範囲 - 0℃-50 ホストサイズ - 148*76*26 mm (L*W*H) 測定原理 - 磁気誘導 反復性- ≤ ± （0.8%H+0.1μm）据え付け品とのテスト、H は標準値です 正確さ-≤±（2%H+0.3μm）1-5点の口径測定の後で、Hは標準値である 単位 - μm / mil 測定間隔 - 1.5s 最小測定範囲 - Ø = 7mm 最小曲率 - 凸：1.5mm / 凹：10mm 最小基板厚さ - 0.1mm LS225+F500 めっき厚さ計は、F500 超小型プローブを使用しており、特にネジやボルトなどの小さなワークのめっき厚測定に適しています。