EDXRF分光器 EDX-7200
XRFEDX製薬産業用

EDXRF分光器 - EDX-7200 - Shimadzu France - XRF / EDX / 製薬産業用
EDXRF分光器 - EDX-7200 - Shimadzu France - XRF / EDX / 製薬産業用
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特徴

タイプ
EDX, XRF, EDXRF
分野
研究所用, 分光学用, 製薬産業用, 石油産業用, 金属産業用, 化学工業用, 半導体産業用, エレクトロニクス産業用, 鉱業用, 自動車産業用, 食品および飲料産業用, セラミック用
検出器のタイプ
SDD
その他の特徴
高解像度, 高感度, 高精度, 高速
長さ

30 cm
(11.81 in)

27.5 cm
(10.83 in)

高さ

10 cm
(3.94 in)

詳細

概要
EDX-7200は、EDXシリーズのモデルであり、高感度、高速、高精度の分析を目的としています。専用のスクリーニング解析キットによりRoHS/ELV、REACH、TSCAなどの規制適合検査をサポートし、高分解能のSDD検出器を搭載してカウント率と検出効率を向上させます。

原理
試料をX線管からのX線で照射すると、試料中の原子が特徴的な蛍光X線を放出します。各元素に固有の波長/エネルギーを解析して定性同定を行い、特定波長での強度を測定することで元素濃度に基づく定量解析を行います。

主な機能
  • 高分解能SDD検出器により高いカウント率と検出効率を実現。
  • 優れたエネルギー分解能によりピークの重なりを低減し、解析の信頼性を向上。
  • 最大約 W300 × D275 × H100 mm の試料に対応する機能的な設計。
  • 専用のスクリーニング解析キットでRoHS/ELV、REACH、TSCAの適合検査をサポート。
  • 高感度、高速、高精度の分析に最適化。

適用分野
  • 電気・電子材料
    • RoHSおよびハロゲンのスクリーニング
    • 半導体、ディスク、液晶、太陽電池の薄膜解析
  • 自動車・機械
    • ELV有害元素のスクリーニング
    • 部品の組成解析、めっき厚さ測定、化学変換被膜の膜厚/膜量測定
  • 鉄/非鉄金属
    • 原料、合金、はんだ、貴金属の主成分および不純物解析
    • スラグの組成解析
  • 鉱業
    • 鉱石処理の品位解析
  • セラミックス
    • セラミックス、セメント、ガラス、煉瓦、粘土の解析
  • 石油・石油化学
    • 石油中の硫黄分析
    • 潤滑油中の添加元素および混合元素の分析
  • 化学
    • 製品および有機/無機原料の分析
    • 触媒、顔料、塗料、ゴム、プラスチックの分析
  • 環境
    • 土壌、排水、燃焼灰、フィルター、微粒子の分析
  • 製薬
    • 合成時の触媒残留物の分析
    • 有効成分中の不純物および異物解析
  • 農業・食品
    • 土壌、肥料、植物の分析
    • 原材料の分析、添加元素の管理、食品中の異物検出
  • その他
    • 考古学試料や宝石の組成解析
    • 玩具や日用品における有害重金属の検出

仕様 / 技術仕様
  • モデル:EDX-7200
  • 検出器:高分解能SDD(シリコンドリフト検出器)
  • 検出器の利点:高カウント率、検出効率の向上、ピーク重なりの低減
  • 最大試料サイズ:概ね W300 × D275 × H100 mm
  • 設計目標:高感度、高速、高精度
  • 適合支援:RoHS/ELV、REACH、TSCA 用スクリーニングキット
  • 解析タイプ:定性(元素同定)および定量(ピーク強度からの濃度算出)

カタログ

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*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。