ベンチトップ導電率計 EddyCus® TF map 2525RM

EddyCus® TF map 2525RM - 薄膜の導電性マッピングと欠陥の識別 材料の導電性は、さまざまな材料特性によって決まります。その組成に加えて、構造や純度も導電性に影響を与えます。EddyCus® TF map 2525RMは、導電性とそれに関連する特性を高解像度でイメージングし、材料の特性、効果、欠陥を明らかにすることに特化した渦流マッピングシステムです。このシステムには、高解像度の導電性イメージングや高浸透性、ディファレンシャルプローブを用いた欠陥検出用に、さまざまなEddyCusセンサーを搭載することができます。このシステムは、100 µmから10 mmの測定ピッチで表面の画像（渦流Cスキャン）を作成することをサポートします。3軸システムでは、最大250×250mm（10×10インチ）の2Dおよび2.5D領域をスキャンすることができます。代表的な用途としては、SiC、グラファイト、金属、合金、鋼板などの導電性材料や、その他の導電性半製品の表面特性評価が挙げられます。また、このシステムは、印刷された電子機器や層の電気的整合性のテストにも使用できます。 渦電流試験では、材料の導電率[IACSまたはMS/m]や抵抗率[Ohm mまたはOhm / mm² / m]を定量化することができます。材料の導電率からは、材料の種類や材料組成の均一性など、材料の特性に関する情報が得られます。電気的特性に関する直接的な情報に加えて、導電率には熱的特性や機械的特性、構造的整合性に関連する情報も含まれています。