エレクトロニクス産業用テスト システム Titan HP
半導体用モジュール式高出力

エレクトロニクス産業用テスト システム - Titan HP - Teradyne - 半導体用 / モジュール式 / 高出力
エレクトロニクス産業用テスト システム - Titan HP - Teradyne - 半導体用 / モジュール式 / 高出力
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特徴

分野
エレクトロニクス産業用
応用
半導体用
形状
モジュール式
その他の特徴
高出力, 自動, 精密

詳細

Teradyne Titan HPは、次世代のAIおよびクラウドインフラストラクチャデバイスのためのミッションモードテストを可能にする、業界をリードする高性能システムレベルテスト(SLT)ソリューションです。Teradyneの包括的なテスト機器ポートフォリオの一部として、すべてのデバイスに対して優れたテストを提供し、Teradyne Titan HPは、顧客の資本設備投資が進化する市場の需要に対応できるように将来を見据えています。 - 生産実績のあるソリューション Teradyne Titan™ HPシステムレベルテスト(SLT)プラットフォームは、複数の顧客で生産に導入されており、システム性能テストの最高レベルを要求する半導体テスト環境で最適な柔軟性、スケーラビリティ、および密度を提供します。このプラットフォームは、特にAIおよびクラウドインフラストラクチャデバイスに適しており、これらのデバイスは、消費電力が大きく、熱放散の課題があるため、効率的な熱制御が必要です。高度なアクティブサーマルコントロール(ATC)機能を備えたTitan HPは、過熱や焼損を防ぎながら、テスト時間とフローを最適化するように設計されており、AIおよびクラウドインフラストラクチャSLTアプリケーションにとって重要なソリューションです。 - Titan HPの主な特徴には以下が含まれます: - デバイスごとの高いkW電力供給、増加する市場要件をサポートするロードマップ。 - 個々のデバイス要件に合わせた、サイトごとの優れた熱制御。 - 既存のSLTテストプログラムをインポートしたり、新しいプログラムを作成したりできるAtlas SLTソフトウェアプラットフォーム。テストプログラムは、他のTeradyne SLTシステムに編集または移植できます。 - OEEを最適化する非同期スロットアーキテクチャ。 - ATEとSLT間でのテストの移行をサポート。 - 顧客の成功を確実にするための優れたアプリケーションとサポートサービス。 - 技術仕様 / 特徴 - AIおよびクラウドインフラストラクチャデバイス用のシステムレベルテスト(SLT)プラットフォーム - 過熱と焼損を防ぐアクティブサーマルコントロール(ATC) - デバイスごとの高い電力供給(kW範囲) - サイトごとにカスタマイズ可能な熱および力のゾーン - テストプログラム管理と移植性のためのAtlas SLTソフトウェア - OEEを最適化する非同期スロットアーキテクチャ - ATEとSLT間でのテストの移行をサポート
*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。