走査電子顕微鏡 CLARA

素材検査用卓上自動

ナノスケールでの材料特性評価のためのフィールドフリーの分析UHR SEM - あらゆる種類の材料のナノスケールでの妥協のない特性評価 - 最大の表面トポグラフィを実現するための低ビームエネルギーでの材料の特性評価に最適 - ビームに敏感な試料や非導電性試料の優れたイメージング - 電子ビームの完全自動セットアップ - In-Flight Beam Tracing™により最適なイメージング条件が保証されています。 - Wide Field Optics™設計により、光学ナビゲーションカメラを追加することなく、2倍という低倍率でのサンプル上での直感的なライブSEMナビゲーションが可能です。 - 角度とエネルギーを選択してBSEを検出できる独自のインビームマルチディテクタ設計 - ユーザーのスキルレベルに関係なく簡単に操作できるように設計された直観的なソフトウェア・モジュラー・プラットフォーム