2次電子顕微鏡

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走査電子顕微鏡
走査電子顕微鏡
Phenom XL G3

倍率 : 160 unit - 200,000 unit
分解能: 0 µm - 10 µm

... 迅速な材料イメージングと分析のための実績ある大型チャンバーSEM Thermo Scientific Phenom XL G3 デスクトップSEMは、より迅速で効率的な品質管理と故障解析の舞台を提供します。 大型ステージは最大100 mm x 100 mmの試料に対応し、ルーチン分析タスクの自動化により、平均画像化時間わずか60秒で正確で再現性の高い結果を提供します。 広々としたチャンバーでは、電動ユーセントリックサンプルチルト、in situ引張試験、電気フィードスルーオプションなどの高度な機能を使用できます。アルゴン対応モデルは、デリケートなサンプルを保護する不活性環境を提供します。 長寿命のCeB₆(六ホウ化セリウム)光源は、卓越した明るさを提供し、多くの小さなディテールを特徴とする高品質の画像をはるかに容易に得ることができます。 Phenom ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
X線顕微鏡
X線顕微鏡
Phenom Pro G6

倍率 : 160 unit - 350,000 unit
分解能: 8, 6, 5, 20, 10 nm
重量: 50 kg

... Thermo Scientific Phenom Pure、Pro、ProX G6デスクトップSEMは、ほとんどの作業を自動化する経済的で使いやすいソリューションです。各機種は生産性を考慮して設計されており、高輝度六ホウ化セリウム(CeB6)光源を搭載し、優れた画質と長期にわたる信頼性を実現しています。 これらのSEMは、信頼性が高く、安定した結果を迅速に得ることができます。初心者の方でも、数分で高解像度の画像を得ることができます。 Phenom Pure G6 デスクトップ SEM:最も基本的で経済的なオプションで、教育目的や基本的な研究開発に適しています。 Phenom ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
走査電子顕微鏡
走査電子顕微鏡
Phenom ProX G6

倍率 : 160 unit - 350,000 unit
分解能: 8, 6 nm

... 信頼性の高い一貫した結果をデスクトップに自動配信 Thermo Scientific Phenom Pure、Pro、ProX G6デスクトップSEMは、作業のほとんどを自動化する経済的で使いやすいソリューションです。各機種は生産性を考慮して設計されており、高輝度六ホウ化セリウム(CeB6)光源を搭載し、優れた画質と長期にわたる信頼性を実現しています。 これらのSEMは、信頼性が高く、安定した結果を迅速に得ることができます。初心者の方でも、数分で高解像度の画像を得ることができます。 Phenom ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
走査型透過電子顕微鏡
走査型透過電子顕微鏡
SU9000 II

倍率 : 3,000,000 unit
分解能: 0.8, 0.4, 1.2 nm

... 超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡 SU9000II コールドFE電子源は、他の電子源と比べて光源径やエネルギー幅が小さいので、高分解能観察に適しています。さらに高輝度かつ安定性な新型コールドFE電子銃を搭載したSU9000IIは高分解能観察のみならず、高品質な元素分析が可能です。それらの性能を発揮したデータを安定して取得できるよう、光学系の自動調整機能やデータ取得自動化を支援するオプション機能を搭載し、大量データの自動取得を可能にしました。 また、インレンズ形対物レンズを備えたSU9000IIは、EELSの測定が可能です。 SU9000IIは日立FE-SEMの最上位機種です。 低収差レンズの最高峰であるインレンズ型対物レンズを搭載したSU9000IIは、世界最高分解能 ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH/日立
電界放出形走査電子顕微鏡
電界放出形走査電子顕微鏡
SU8700

倍率 : 20 unit - 2,000,000 unit
分解能: 0.9, 0.6 nm

... SU8700は高空間分解能と多様な信号検出による観察能力で、デバイスや材料の解析からライフサイエンスまで幅広い分野での観察・分析業務をサポートします。 ショットキーFE電子銃搭載により、極低加速電圧観察から大照射電流を要する高速分析まで幅広い解析手法に対応します。 光学系の自動調整機能やデータ取得自動化を支援するオプション機能を搭載し、大量データの自動取得を可能にしました。 * 装置写真はオプション付属の状態です。 価格:お問い合わせください 取扱会社:株式会社 日立ハイテク 多様な観察条件を可能にするショットキーエミッター搭載FE-SEM 100Vまでの低加速電圧と最大200nAまでの照射電流 低真空モード対応 多様な情報を取得する検出系 スループット向上を支援する自動化機能搭載 SU8700は光学系の自動調整機能を搭載しており、ユーザーの操作負荷を低減します。また、オプション機能 ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH/日立
電界放出形走査電子顕微鏡
電界放出形走査電子顕微鏡
SU7000

倍率 : 20 unit - 2,000,000 unit
分解能: 0.9, 0.8 nm

... 低加速電圧での高い像質、複数信号同時取得などに加え、広域視野観察、In-Situ観察など現在のFE-SEMでは高い能力と多くの機能が要求されています。 SU7000は多様化するニーズにおいて情報最大化を目ざして創られた、「新しいSEM」です。 SU7000がもたらす世界を体感してください。 1.多彩なイメージング能力 広視野全体像から表面微細構造まで、SU7000は多様な信号の迅速取得を目ざして設計されました。 複数の二次電子信号・反射電子信号が同時に取得できるようにデザインされた電子光学系/検出系はより短い時間で多くの情報をユーザーにもたらします。 2.マルチチャンネルイメージング イメージングニーズの増加に伴い、装着される検出器の数も増加していますが、表示もそれに見合う機能が必要です。 SU7000では最多6チャンネルでの信号同時表示/保存が可能です。 取得情報の最大化を強力にアシストします。 3.多様な試料形状・観察手法に対応 • ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH/日立
走査型電子顕微鏡
走査型電子顕微鏡
JSM-IT710HR

... ナノメートルオーダーでの分解能や分析性能はもちろんのこと、データを取得する際のスループットも重要視される今、新たに誕生したJSM-IT710HRは、"誰でも簡単に高分解能の画像が撮ることが出来るSEM" をテーマに掲げたJEOLのHR*シリーズの4世代のモデルです。 自動機能を拡充させた操作性と新しい検出器系を兼ね備えた観察性能の向上により、見えたその先をさらに探求したくなる装置です。 *HR=High Resolution ...

走査電子顕微鏡
走査電子顕微鏡
CEM3000A

倍率 : 40 unit - 300,000 unit
分解能: 4 nm - 8 nm
重量: 120 kg

... 概要

  • 卓上走査型電子顕微鏡 CEM3000A は、微小形態観察および材料表面の解析を目的に設計されています。二次電子(SE)および反射電子(BSE)による高コントラスト・深い被写界深度の画像取得に対応し、元素分析用のエネルギー分散型分光器(EDS)をオプションで搭載可能です。


用途
  • 材料科学、生命科学、ナノテクノロジー、エネルギー研究に適合。オプションのプローブやアクセサリで拡張可能。低ノイズ化のための耐振動・耐磁設計を備え、撮像の安定性を向上させます。


主な仕様
  • 製品型番:CEM3000A
  • 製品名:Scanning
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FIB/SEM顕微鏡
FIB/SEM顕微鏡
AMBER X

... マルチスケール材料特性評価のためのプラズマFIBとフィールドフリーUHR FE-SEMのユニークな組み合わせ - 1mmまでの大面積FIBを高スループットで処理 - Gaフリーのマイクロサンプル調製 - 超高分解能、フィールドフリーのFEG-SEMイメージングと解析 - レンズ内SEとBSE検出 - ハイスループット・マルチモーダルFIB-SEMトモグラフィーのための解像度最適化 - ナビゲーションを容易にするための優れた視野 - Essence™ 使いやすいモジュール式のグラフィカル・ユーザー・インターフェース ...

AFM-MEB顕微鏡
AFM-MEB顕微鏡
FusionScope®

倍率 : 25 unit - 200,000 unit
重量: 330 kg
長さ: 835 mm

... FusionScopeは相関AFM/SEM顕微鏡であり、これら2つの分析手法をシームレスに組み合わせることができるように一から設計されています。ほとんどの分析では、パラメータ間の相関関係を調べるために、複数の手法でサンプルを分析することが望まれます。AFMやSEMのようなイメージング技術では、多くの場合、まったく同じ領域を分析する必要があります。サンプルを顕微鏡から別の顕微鏡に移したり、サンプルの同じ場所を分析するために2つの異なるオペレーティングシステムを使用したりする必要がなく、FusionScopeは同じユーザーインターフェイス内で、同じ場所を協調して補完的に測定することができます。これにより、より有用で斬新なデータを迅速に提供できる、使いやすいシステムとなります。 FusionScopeは、SEMを備えた完全機能の原子間力顕微鏡の利点をすべて備えています。接触モード、ダイナミックモード、FIREモードなど、標準的なAFMで期待されるほとんどの通常の測定モードが可能です。ボタンをクリックするだけで、サブナノメートル分解能のAFMとSEMイメージングを切り替え、必要なデータを抽出できます。交換可能なカンチレバーは、導電性AFM(C-AFM)や磁気力顕微鏡(MFM)などの高度なモードを簡単に提供します。 使いやすさ FusionScopeのハードウェアとソフトウェアは、初心者の方でも安心してお使いいただけるよう慎重に設計されています。また、上級者の方でも、期待される機能をすべて備えた、詳細でカスタマイズ可能なユーザーインターフェースをご利用いただけます。 タスクとワークフロー FusionScopeは、AFMやSEMの操作に関連する一般的なサポート作業をサポートします。 ...

電界放出形走査電子顕微鏡
電界放出形走査電子顕微鏡
SEM5000Pro

倍率 : 1 unit - 2,500,000 unit
分解能: 0.8 nm - 1.3 nm
重量: 950 kg

... CIQTEK FESEM 顕微鏡 SEM5000Pro 仕様 -電子光学系 分解能:0.8 nm @ 15 kV, SE/1.2 nm @ 1.0 kV, SE 加速電圧:0.02kV ~ 30kV 倍率(ポラロイド):1 ~ 2,500,000 x 電子銃タイプ:ショットキー電界放出型電子銃 -試料室 カメラ:デュアルカメラ(オプティカルナビゲーション+チャンバーモニター) ステージ範囲:X:110mm, Y:110mm, Z:50mm/T:-10°~+70°, R:360°. -SEM検出器とエクステンション 標準:インレンズ電子検出器/エバーハート-ソーンリー検出器(ETD) オプション:開閉式後方散乱電子検出器(BSED) ...

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CIQTEK Co., Ltd.
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