2次電子顕微鏡

倍率 : 2,000,000 unit
分解能: 2, 10, 3 nm

... 卓上型フィールドエミッションガン走査型電子顕微鏡。 フィールドエミッションガン走査電子顕微鏡 Thermo Scientific Phenom Pharos G2 FEG-SEMは、卓上でフィールドエミッションSEMを実現します。Phenom Pharos G2 FEG-SEMは、多くの卓上型SEMを画質面で凌駕し、ユーザーエクスペリエンスも大幅に向上します。Phenom Pharos G2 FEG-SEMは、これまでSEMを現実的な選択肢とは考えていなかった学術・工業研究室にとって、その魅力的なフォームファクターと短時間のトレーニングにより、FEG性能を身近なものにします。高速サンプルローディングは、高速サンプル交換を意味し、高い生産性を実現します。予約で一杯になってしまう他のSEMとは異なり、Phenom ...

分解能: 1.4, 0.7, 1.2 nm
重量: 5 kg

... 超高分解能、高品質な試料作成、3次元特性評価を実現する集束イオンビーム走査型電子顕微鏡。 Thermo Scientific Scios 2 DualBeam は、超高分解能分析用集束イオンビーム走査電子顕微鏡 (FIB-SEM) システムで、磁性体や非導電性物質を含むさまざまな試料に対して優れた試料作成性能と 3D 特性評価性能を提供します。スループット、精度、使いやすさを向上させる革新的な機能を備えたサイオス2デュアルビームは、学術研究、政府機関、産業界の研究環境において、高度な研究や分析を行う科学者やエンジニアのニーズを満たす理想的なソリューションです。 サブサーフェスキャラクタリゼーション 試料の構造と特性をよりよく理解するために、表面下または3次元の特性評価が必要になることがよくあります。Scios ...

分解能: 7, 3 nm
重量: 5 kg

... 環境走査電子顕微鏡機能を備えた産業研究開発用走査電子顕微鏡。 環境走査型電子顕微鏡 Thermo Scientific Prisma E Scanning Electron Microscope (SEM)は、幅広いイメージングと分析モダリティを高度なオートメーションと組み合わせることで、同クラスの装置の中で最も完全なソリューションを提供します。高分解能、サンプルの柔軟性、使いやすいオペレータインターフェイスを必要とする産業研究開発、品質管理、故障解析アプリケーションに最適です。Prisma ...

倍率 : 160 unit - 200,000 unit
分解能: 0 µm - 10 µm

... Phenom XL G2 デスクトップSEMの応用例 Thermo Scientific Phenom XL G2 Desktop Scanning Electron Microscope (SEM) は、品質管理プロセスを自動化し、正確で再現性の高い結果を提供するとともに、付加価値の高い業務に時間を割くことができる次世代型のSEMです。 Phenom XL G2 Desktop SEMを使用すると、以下のことが可能になります： - 不具合を早期に発見し、必要に応じて生産工程を迅速に調整するために必要な品質情報を得ることができます。 - ...

倍率 : 160 unit - 350,000 unit
分解能: 8, 6 nm

... デスクトップSEMは、SEM分析を堅牢かつ容易にし、調査能力を拡大します。 Phenom ProデスクトップSEM 第6世代のThermo Scientific Phenom Pro G6 Desktop SEMは、光学顕微鏡とフロアモデルSEM解析のギャップを埋めることで、研究施設の能力を拡大することができます。 Phenom Pro G6 Desktop SEMは、迅速で使いやすく、フロアモデルのSEM装置から一般的なサンプルのルーチン分析の負担を軽減するために使用することができます。装置構成とサンプルローディング機構により、実験間のチューニングに費やす時間を最小限に抑え、迅速なイメージングを実現します。 Phenom ...

倍率 : 160 unit - 350,000 unit
分解能: 8, 6 nm

... EDS機能を搭載したデスクトップSEMで、堅牢、楽々、多彩な元素分析、SEM分析が可能です。 エネルギー分散型X線回折装置付きSEM「Phenom Desktop」。 第6世代のThermo Scientific Phenom ProX G6 Desktop SEMは、光学顕微鏡とフロア型SEM分析のギャップを埋めることで、研究施設の能力を拡大することができます。高速・高解像度のイメージングに加え、エネルギー分散型X線回折（EDS）検出器を内蔵し、堅牢で使いやすい迅速な元素分析が可能です。 主な特徴 高速かつ簡単に使用できる Phenom ...

倍率 : 160 unit - 175,000 unit
分解能: 0 nm - 15 nm

... 経済的で使いやすく、信頼性の高い自動化機能を備えたデスクトップSEM。 Thermo Scientific Phenom Pure 卓上型走査電子顕微鏡（SEM）は、光学顕微鏡から電子顕微鏡への移行に理想的なツールです。高分解能イメージングを経済的に実現し、クラス最高のイメージング結果を提供します。 Phenom Pure Desktop SEMは、長寿命、高輝度CeB6光源により高品質な画像を提供し、市場最速のローディングとイメージング時間を実現します。信頼性の高いオートフォーカスと自動ソースアライメントにより、市場で最も使いやすいシステムとなっています。 迷わないナビゲーション ユニークなネバーロストナビゲーションにより、ユーザーは常にサンプル上の位置を把握することができます。光学像と電子光学像のオーバービューは、常に明確な基準点を提供します。内蔵の電動ステージにより、試料を素早く移動することができます。 簡単操作 わずか10分の基本トレーニングで、すぐに撮影が可能です。様々なサンプルに対応できるよう、豊富なサンプルホルダーをご用意しています。特許取得済みのサンプル真空ローディング技術により、サンプルローディングは迅速かつ安全です。 SEMのカスタマイズ Phenom ...

倍率 : 160 unit - 200,000 unit
分解能: 0 nm - 10 nm

... 電池の製造・研究用卓上型走査電子顕微鏡。 先端電池材料解析 電池材料分析用に設計されたPhenom Desktop SEM 電池の製造や研究において、材料の品質は非常に重要になってきています。例えば、NCM粉末に含まれる小さな汚染物質が、最終製品に悲惨な結果をもたらすことがあります。このような汚染物質を効果的に追跡するには、高解像度のSEMイメージングと化学用のEDS分析が必要です。完全に自動化されれば、この組み合わせは粉体品質検査の強力なツールになります。 Phenom ...

倍率 : 160 unit - 200,000 unit
分解能: 0 nm - 10 nm

... 多目的デスクトップSEMによる部品クリーン度解析。 部品クリーン度解析用デスクトップSEM Thermo Scientific Phenom ParticleX TC Desktop SEMは、マイクロスケールでのテクニカルクリーンネスを可能にする多目的デスクトップSEMです。 材料特性評価 Phenom ParticleX Desktop SEMは、高品質な自社分析を可能にする汎用的なソリューションです。材料の特性評価、検証、分類を迅速に行うことができ、迅速かつ正確で信頼できるデータで生産をサポートします。また、操作が簡単で習得が早いため、より多くのユーザーに粒子・材料分析の門戸を開いています。 主な機能 技術的なクリーン度 自動車産業において、光学顕微鏡の範囲を超えた微小粒子の分析が求められる中、Phenom ...

倍率 : 160 unit - 200,000 unit
分解能: 10 nm

... 最大100mm×100mmの大型試料を観察できる、積層造形解析用デスクトップSEM。 アディティブマニュファクチャリング解析 Thermo Scientific Phenom ParticleX Desktop Scanning Electron Microscope (SEM) は、添加剤製造用に設計された多目的デスクトップSEMで、マイクロスケールで純度を実現します。 最大100mm×100mmのサンプルを分析できる大きさのチャンバーを搭載しています。独自のベント・ロード機構により、世界最速のベント・ロードサイクルを実現し、最高のスループットを提供します。 Phenom ...

倍率 : 3,000,000 unit
分解能: 0.8, 0.4, 1.2 nm

超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡 SU9000II コールドFE電子源は、他の電子源と比べて光源径やエネルギー幅が小さいので、高分解能観察に適しています。さらに高輝度かつ安定性な新型コールドFE電子銃を搭載したSU9000IIは高分解能観察のみならず、高品質な元素分析が可能です。それらの性能を発揮したデータを安定して取得できるよう、光学系の自動調整機能やデータ取得自動化を支援するオプション機能を搭載し、大量データの自動取得を可能にしました。 また、インレンズ形対物レンズを備えたSU9000IIは、EELSの測定が可能です。 SU9000IIは日立FE-SEMの最上位機種です。 低収差レンズの最高峰であるインレンズ型対物レンズを搭載したSU9000IIは、世界最高分解能 ...

倍率 : 20 unit - 2,000,000 unit
分解能: 0.9, 0.8 nm

SU8700は高空間分解能と多様な信号検出による観察能力で、デバイスや材料の解析からライフサイエンスまで幅広い分野での観察・分析業務をサポートします。 ショットキーFE電子銃搭載により、極低加速電圧観察から大照射電流を要する高速分析まで幅広い解析手法に対応します。 光学系の自動調整機能やデータ取得自動化を支援するオプション機能を搭載し、大量データの自動取得を可能にしました。 * 装置写真はオプション付属の状態です。 価格：お問い合わせください 取扱会社：株式会社 ...

倍率 : 20 unit - 2,000,000 unit
分解能: 0.9, 0.8 nm

低加速電圧での高い像質、複数信号同時取得などに加え、広域視野観察、In-Situ観察など現在のFE-SEMでは高い能力と多くの機能が要求されています。 SU7000は多様化するニーズにおいて情報最大化を目ざして創られた、「新しいSEM」です。 SU7000がもたらす世界を体感してください。 1.多彩なイメージング能力 広視野全体像から表面微細構造まで、SU7000は多様な信号の迅速取得を目ざして設計されました。 複数の二次電子信号・反射電子信号が同時に取得できるようにデザインされた電子光学系/検出系はより短い時間で多くの情報をユーザーにもたらします。 2.マルチチャンネルイメージング イメージングニーズの増加に伴い、装着される検出器の数も増加していますが、表示もそれに見合う機能が必要です。 SU7000では最多6チャンネルでの信号同時表示/保存が可能です。 取得情報の最大化を強力にアシストします。 3.多様な試料形状・観察手法に対応 • ...

分解能: 1.2 nm

SU5000 & EM Wizardが創造するFE-SEMの新たな世界。 SEMを初めて使用されるユーザーに対しても「美しい像が得られる体験」、そして一人で習熟・熟達していける「成功体験」、熟達したユーザーにも豊富な機能で提供する新たな「体験」。 EM Wizardはさまざまな“User Experience”を提供し、新たなSEMの楽しさ、面白さを拓きます。 あらゆるユーザーに高分解能・再現性・スループットを提供する、新開発ユーザーインターフェース「EM ...

倍率 : 5 unit - 800,000 unit
分解能: 15, 4, 3 nm

高性能を、ここまで使いやすく、ここまで多用途に 日立ハイテクの走査電子顕微鏡 SU3800/SU3900は、操作性と拡張性を両立させました。 数々の操作もオート化し、高性能を効率的に活用することができます。 多目的大型試料室を搭載し、In-Situ解析にも対応しました。 ①大型試料に対応 ■大型/重量試料対応ステージ • リスクを低減する試料交換シーケンス • スループットを向上する試料交換室 • 自由度を高める、ステージ移動制限解除機能* • ...

倍率 : 6 unit - 800,000 unit
分解能: 4, 5, 15 nm

「先進のSEMをよりコンパクトに」 わずか45 cm幅のコンパクト設計ながら、4.0 nmの像分解能を実現。 新開発のユーザーインターフェース、電子光学系が高性能をさらに身近にします。 価格：お問い合わせください 取扱会社：株式会社 日立ハイテク FlexSEM 1000 IIは、新設計の電子光学系と高感度検出器により、加速電圧20 kVで像分解能 4.0 nmを実現しています。新開発のユーザーインターフェースは、明るさやフォーカスの自動調整機能の高速化により、短時間で多彩な観察を可能にします。また、電子顕微鏡の欠点であった視野探しの困難さを容易にする新ナビゲーション機能「SEM ...

倍率 : 10 unit - 25,000,054 unit
重量: 54 kg
長さ: 614, 617 mm

卓上SEMは、次のステージへ。 もっと、高画質に、もっと使いやすく、見やすくをコンセプトに開発したTM4000シリーズはさらに機能を拡張したTM4000Ⅱシリーズを発売。 新たな観察・分析アプリケーションをご提供します。 中小企業等経営強化法に基づく支援措置の対象製品（生産性向上設備（A類型））です。 画像観察まで3分。目的のデータを素早く取得し、レポート作成が可能。 観察・分析のフレキシビリティ 多彩なデータをオートで取得。切替も迅速！ 迅速な元素マップ*2の取得が可能 Camera ...

倍率 : 20 unit - 8,000,000 unit
分解能: 0.08, 0.1 nm

空間分解能と傾斜・分析性能を調和した、200 kV収差補正TEM/STEM 0.078 nmのSTEM空間分解能や、高試料傾斜・大立体角EDXを、シングルポールピースで実現しました。 走査透過電子顕微鏡｢HD-2700｣搭載の日立製球面収差補正器や、その自動補正機能、収差補正SEM像やシンメトリーDual SDDなどの特長を受け継ぐとともに、透過電子顕微鏡HFシリーズで培ってきた技術を結集・融合しました。 ハイエンドユーザーをはじめ幅広いユーザー向けに、サブÅレベルの空間分解能と高分析性能を、より多様な観察・分析手法とともにご提供します。 0.078 ...

倍率 : 25 unit - 200,000 unit
重量: 330 kg
長さ: 835 mm

... FusionScopeは相関AFM/SEM顕微鏡であり、これら2つの分析手法をシームレスに組み合わせることができるように一から設計されています。ほとんどの分析では、パラメータ間の相関関係を調べるために、複数の手法でサンプルを分析することが望まれます。AFMやSEMのようなイメージング技術では、多くの場合、まったく同じ領域を分析する必要があります。サンプルを顕微鏡から別の顕微鏡に移したり、サンプルの同じ場所を分析するために2つの異なるオペレーティングシステムを使用したりする必要がなく、FusionScopeは同じユーザーインターフェイス内で、同じ場所を協調して補完的に測定することができます。これにより、より有用で斬新なデータを迅速に提供できる、使いやすいシステムとなります。 FusionScopeは、SEMを備えた完全機能の原子間力顕微鏡の利点をすべて備えています。接触モード、ダイナミックモード、FIREモードなど、標準的なAFMで期待されるほとんどの通常の測定モードが可能です。ボタンをクリックするだけで、サブナノメートル分解能のAFMとSEMイメージングを切り替え、必要なデータを抽出できます。交換可能なカンチレバーは、導電性AFM（C-AFM）や磁気力顕微鏡（MFM）などの高度なモードを簡単に提供します。 使いやすさ FusionScopeのハードウェアとソフトウェアは、初心者の方でも安心してお使いいただけるよう慎重に設計されています。また、上級者の方でも、期待される機能をすべて備えた、詳細でカスタマイズ可能なユーザーインターフェースをご利用いただけます。 タスクとワークフロー FusionScopeは、AFMやSEMの操作に関連する一般的なサポート作業をサポートします。 ...

倍率 : 1 unit - 2,500,000 unit
分解能: 1, 1.5, 0.8 nm
重量: 950 kg

... CIQTEK SEM5000は、高分解能、豊富な機能を備えた電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM、FEG SEM）です。 先進的なカラム設計、高電圧トンネル技術（SuperTunnel）、低収差非漏洩磁気対物レンズ設計、低電圧高分解能イメージングを達成するために、磁性試料を適用することができます。光学ナビゲーション、高度な自動機能、よく設計された人間と機械の相互作用、および最適化された操作。 経験の有無にかかわらず、高解像度の撮影作業をすぐに始めることができます。 低加速電圧で高解像度撮影が可能。 電磁複合ミラーは収差を低減し、低電圧での解像度を大幅に向上させ、磁性試料の観察を可能にします。 高圧トンネル技術（SuperTunnel）。トンネル内の電子が高エネルギーを維持できるため、空間電荷の影響を低減し、低電圧での分解能を確保。 クロスオーバーのない電子光路により、システム収差を効果的に低減し、分解能を向上。 水冷式恒温対物レンズを採用し、対物レンズの安定性、信頼性、再現性を確保。 磁気偏向6穴調整可能なダイヤフラム、自動切り替えダイヤフラム穴、機械的な調整なし、高分解能観察または大きなビーム解析モード高速切り替えを達成するために。 ...

分解能: 0.9, 2.5 nm

CIQTEK SEM4000 は、高輝度・長寿命のショットキー電界放出型電子銃を搭載した分析用熱電界放出型走査電子顕微鏡です。 大きなビーム電流を連続的に調整できる 3 段階の磁気レンズ設計は、EDS、EBSD、WDS、およびその他のアプリケーションに明らかな利点をもたらします。低真空モードをサポートし、弱いサンプルまたは非導電性サンプルの導電率を直接観察できます。標準の光学式ナビゲーション モードと直感的な操作インターフェイスにより、分析作業が容易になります。 ・高輝度、長寿命のショットキー電界放出型電子銃を搭載 •高分解能、30 ...

倍率 : 1 unit - 2,500,000 unit
分解能: 0.6 nm
重量: 400 kg

... SEM5000Xは、超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡(FE-SEM)です。 0.6nm@15kV、1.0nm@1kVという画期的な分解能を実現しました。SEM5000Xは、改良されたカラムエンジニアリングプロセス、"SuperTunnel "技術、高分解能対物レンズ設計により、低電圧イメージング分解能の更なる向上を実現しました。試料室ポートは16個まで拡張でき、試料交換ロードロックは最大8インチウェーハサイズ（最大直径208mm）まで対応するため、アプリケーションの適用範囲が大幅に広がります。先進のスキャンモードと強化された自動化機能により、より強力なパフォーマンスと、より最適化された体験をもたらします。 ...

分解能: 3, 1.2 nm

CIQTEK DB500 は、ナノ分析および試料調製用の集束イオンビームカラムを備えた電界放射型走査電子顕微鏡であり、「スーパートンネル」技術、低収差、無磁性対物レンズ設計が適用され、低電圧および高分解能を備えています。ナノスケールの分析能力を保証する能力。イオンカラムは、非常に安定した高品質のイオンビームを備えた Ga+ 液体金属イオン源を促進し、ナノ加工能力を保証します。 DB500 は、統合されたナノマニピュレーター、ガス注入システム、対物レンズ用の電気的汚染防止機構、および ...

CIQTEK QDAFM Diamond III/IV は、ダイヤモンド窒素空孔中心 (NV センター) と AFM 走査磁気イメージング技術に基づいた走査型 NV センター顕微鏡です。量子制御とダイヤモンドプローブのスピン状態の読み取りにより、試料の磁気特性が定量的かつ非破壊的に得られます。 NV ダイヤモンド磁力測定と量子力学に基づいており、ナノスケールの空間分解能と超高検出感度を備えており、磁気テクスチャー、高密度磁気ストレージ、スピントロニクスの開発と研究に使用できます。