X線光電子分光器 K-Alpha XPS

光学機器用データ取り込み用アルファ

高性能表面分析用X線光電子分光装置。 K-Alpha X線光電子分光器 Thermo Scientific K-Alpha XPSシステムは、表面分析に新たなアプローチを提供します。K-Alpha XPSシステムは、合理的なワークフローで高品質な結果を提供することに重点を置き、性能や機能を犠牲にすることなく、XPSの操作をシンプルかつ直感的に行えるようにしたシステムです。 最先端の性能、所有コストの削減、使いやすさの向上、高いサンプルスループットにより、K-Alpha XPSシステムはマルチユーザー環境に最適なシステムです。K-Alpha XPSシステムは、世界中のより多くの研究者に表面分析へのアクセスを提供します。 K-Alpha X線光電子分光装置の特長 高性能X線源 X線モノクロメーターは、分析領域を50μmから400μmまで5μmステップで選択でき、目的のフィーチャーにフィットさせて信号を最大化することができます。 最適化された電子光学系 高効率電子レンズ、半球型アナライザー、検出器の採用により、優れた検出性能と高速データ取得を実現しました。 サンプル視聴 K-Alpha XPSシステムの特許取得済みの光学ビューイングシステムとXPS SnapMapにより、サンプルの特徴に焦点を当て、興味のある領域を素早く特定することができます。 絶縁体解析 特許取得済みのデュアルビームフラッドソースは、低エネルギーのイオンビームと非常に低いエネルギーの電子（1eV以下）を結合させることで、分析中のサンプルの帯電を防ぎ、ほとんどの場合、チャージレファランスが不要になります。 デプスプロファイル EX06イオンソースで、表面だけでなく、その向こう側へ。自動化されたソース最適化とガスハンドリングにより、優れたパフォーマンスと実験再現性を実現します。