フィルム用厚さ計 GPA EVO II
据え置き型非接触式静電容量式

フィルム用厚さ計 - GPA EVO II - TSM Control Systems - 据え置き型 / 非接触式 / 静電容量式
フィルム用厚さ計 - GPA EVO II - TSM Control Systems - 据え置き型 / 非接触式 / 静電容量式
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特徴

応用
フィルム用
タイプ
据え置き型
技術
非接触式, 静電容量式
校正
自動校正
その他の特徴
品質管理, ロール付
測定範囲

最少: 0 µm

最大: 300 µm

測定精度

0.2 µm

測定幅

100 mm
(3.9 in)

分解能

0.05 µm

詳細

製品説明
TSM 厚さプロファイル測定システム(GPA EVO II)は、ブローおよびキャストフィルムメーカー向けのラボ用オフライン厚さ測定装置です。非接触容量式およびマイクロメータ式センサーと自動校正機能、統合ソフトウェア GPA-Win を組み合わせ、フィルム全体のプロファイルにわたってミクロン精度の再現性ある測定を提供します。品質管理、ラボ試験、プロセス検証向けに設計されており、独立した厚さ検証により生産管理と ISO/DIN への適合を支援します。

主な特長
  • 測定種別:ブローおよびキャストフィルム向けのオフライン厚さプロファイル測定
  • 測定精度:±0.2 μm の高精度で再現性のある検証
  • センサー分解能:0.05 μm による詳細なプロファイル解析
  • 校正システム:自動ゼロリセットで基準精度を維持
  • センサー技術:非接触容量式およびマイクロメータ式センサーで低摩耗かつ信頼性の高い動作
  • ソフトウェアインターフェース:プロファイル表示とレポート機能を備えた統合 GPA-Win
  • 測定の柔軟性:異なるサンプル長や生産要件に対応
  • フィルム搬送:ローラー付サポートラックで安定したサンプル搬送を実現
  • 接続性:PC 連携用 LAN インターフェースによる構造化データ管理
  • 適合性:ISO/DIN の品質基準に対応する設計


仕様 / 技術仕様
  • フィルム試料幅:100 mm
  • 最大試料長さ:19.99 m
  • 測定速度:15–80 mm/s
  • 測定範囲:0–300 μm
  • センサー分解能:0.05 μm
  • 測定精度:±0.2 μm
  • 加圧力:0.3–0.5 N
  • インターフェース:1 x LAN (PC)

カタログ

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見本市

この販売者が参加する展示会

TaipeiPlas 2026
TaipeiPlas 2026

15-19 9月 2026 Taipei (台湾地区)

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    Plastics Extrusion World Expo 2026
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    11-12 11月 2026 Wyomissing (米国-ペンシルベニア)

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    *価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。