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ViewOhre Imaging Co., Ltd.
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サーモグラフィー撮像装置
ThermalVewX MCR series
半導体産業用
測定
赤外線
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特徴
応用
半導体産業用
機能
サーモグラフィー, 測定
スペクトル
赤外線
イメ-ジセンサ
FPA
オプションとアクセサリー
高感度, 高速, 高性能, 高級品, 冷却
詳細
"ThermalViewX MCRシリーズ "は、熱電対では測定できない微細な領域の温度測定が可能なサーモグラフィです。オプションで400℃以上のミクロン単位の温度測定が可能です。国公立の研究機関、大学、産業界に多数導入されている。半導体関連、カーボンニュートラル、グリーンエネルギー関連分野で使用されている。
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*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。
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