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- ViewOhre Imaging Co., Ltd.
サーモグラフィー撮像装置 ThermalVewX MCR series半導体産業用測定赤外線
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特徴
- 応用
- 半導体産業用
- 機能
- サーモグラフィー, 測定
- スペクトル
- 赤外線
- イメ－ジセンサ
- FPA
- オプションとアクセサリー
- 高感度, 高速, 高性能, 高級品, 冷却
詳細
"ThermalViewX MCRシリーズ "は、熱電対では測定できない微細な領域の温度測定が可能なサーモグラフィです。オプションで400℃以上のミクロン単位の温度測定が可能です。国公立の研究機関、大学、産業界に多数導入されている。半導体関連、カーボンニュートラル、グリーンエネルギー関連分野で使用されている。
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