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... Xtrology (エクストロロジー)」 全 自動薄膜 検査装置は、ウェハの膜厚計測や組成・均一性評価、欠陥分析などの重要な 検査を１台で行うことができる装置です。※１ 例えば、シリコンウェハの欠陥は、半導体デバイスの品質や性能に直結するため、多岐にわたる綿密な 検査が行われおり、正確かつ効率的な対応が求められています。Xtrologyは、レガシーから先端プロセスまでのシリコンウェハはもちろん、次世代パワー半導体向け材料として注目が高まっている化合物半導体ウェハまで 検査が可能です。 HORIBAのコア技術を基に ...
... eSL10™ 電子ビーム欠陥 検査装置は、業界最高の着弾エネルギーと高分解能を活用し、微細な物理的欠陥や高アスペクト比の欠陥を捕捉し、先端ロジック、DRAM、3D NANDデバイスのプロセス開発や生産モニタリングをサポートします。革新的な電子光学設計を採用したeSL10™は、小さなスポットサイズで高いビーム電流密度を実現し、業界で最も幅広い動作条件により、さまざまな困難なプロセス層やデバイス構造の欠陥を捕捉します。画期的なYellowstone™スキャン・モードは、解像度を犠牲にすることなく高速動作 ...
KLA Corporation
... OPC UA 検査ソリューションチェックウェイビジョン 最大計量ゾーン5 計量技術EMFR、ストレインゲージ HMI：12インチタッチスクリーン、15インチタッチスクリーン 包装タイプ袋、ボトル、バンドル、カートン、ケース、複合缶、フローパック 製品の流れ: コンベヤー 最大カメラ視野110 x 110 mm ラベル品質 検査グラフィカルID、ラベルの配置、ラベルの傾き、ラベルのしわ 検査アプリケーションコード 検査、ラベル 検査、重量管理 計量精度： ...
... 提供することで、時間、コスト、ダウンタイムを削減できます。 検査アプリケーション コード 検査 汚染検出 ラベル 検査 重量管理 仕様書 読み取り装置スマートカメラ IP定格IP54、IP65 互換性のあるソフトウェアProdX 接続性イーサネットTCP/IP、フィールドバス、OPC UA 計量技術EMFR、ストレインゲージ 製品フロー：コンベア 最大製品高さ： 200 mm 最大スループット：500ppm カメラ 検査エリア360° 検査ソリューションチェック計量-金属検出-ビジョン 最大製品幅： ...
... コントロールする本格的なソリューションです。 不良品が出る可能性はゼロです。 - 高品位な加飾のための品質管理 - 上方から最大4台のカメラ、裏面から最大1台のカメラ、最大2台のエリアカメラ - 独自の照明システムにより、反射率の高い基材も 検査可能 オフライン 検査システムDiana Eyeは、高級品や医薬品など付加価値の高いパッケージング製品の品質保証を顧客に提供することができます。 ダイアナアイは、独自のLED照明技術、最先端の4Kまたは8Kカメラシステム、高性能データ処理および画像解析ソフトウェア ...
... ユニークなニーズを満たすためにオーダーメイドされています。 TemaFluxの液体浸透探傷 検査システムは、最も重要な部品 検査のニーズを満たすように設計されています。これらのシステムは、使いやすさ、長期間にわたる耐久性、集中的な使用にも耐えうること、そして結果の優れた再現性に重点を置いています。 手動および半 自動システムの利点 中型から大型のワークピースを大量に生産する企業にとって、TemaFlux ...
... 究極の 検査範囲拡大を実現するA1040 MIRA 3DのEブースト機能 E-Boosting は、超音波トモグラフィ A1040 MIRA 3Dシリーズの新しい機能で、インテリジェントな送信パルス制御と受信エコー信号の高度なデジタル処理により、複数の 検査範囲の拡張を可能にします。 超音波パルスエコー・トモグラフィの用途によっては、多層の補強材や粗い骨材が存在するため、達成可能な 検査範囲が制限される場合があります。そのため、市販のUT装置の 検査範囲は2メートルが限界です。 ACSは、厚さ6メートル ...