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Chotestのコンピューター数値制御(CNC)測定システム
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... 形状許容]、特殊 [アプリケーションツール] (ピッチ距離、ピッチ角度、スロット、ネジ、ラウンドクロス、ダウン角度、角丸など)などがあります。 測定結果とその主な統計値(平均値、σ、3σ、6σ、Ca、Cp、Cpkなど)は自動的に記録され、アーカイブされます。履歴抽出のためのフィルター条件は、オペレーターが選択できます。 ストラティスティックス トレンドグラフは、測定値の単調変化や周期変化などの規則的なトレンドを表示し、生産設備の生産プロセスの異常監視に利用できます。 ...
Chotest Technology Inc.
... することができます。 より多くの機能。 (1)回帰直線と円を作成する。 (2)点、交点、自由点、中心点、最高点、最低点を設定する。 (3)座標系の設定 (半径、距離、角度、座標、直線偏差を計算する。 (5)実測値と公称値の比較 (6)測定プログラムの自動実行 2.CNC自動モード対応、SPC統計・分析対応 3.CAD ファイルをインポートし、CAD プロファイルに注釈を付けることをサポートします。 4.PDFプロファイルデータのインポートに対応 5.テストデータのWord、Excel、AutoCAD ...
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... 形状許容]、特殊 [アプリケーションツール] (ピッチ距離、ピッチ角度、スロット、ネジ、ラウンドクロス、ダウン角度、角丸など)などがあります。 測定結果とその主な統計値(平均値、σ、3σ、6σ、Ca、Cp、Cpkなど)は自動的に記録され、アーカイブされます。履歴抽出のためのフィルター条件は、オペレーターが選択できます。 ストラティスティックス トレンドグラフは、測定値の単調変化や周期変化などの規則的なトレンドを表示し、生産設備の生産プロセスの異常監視に利用できます。 ...
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... 形状許容]、特殊 [アプリケーションツール] (ピッチ距離、ピッチ角度、スロット、ネジ、ラウンドクロス、ダウン角度、角丸など)などがあります。 測定結果とその主な統計値(平均値、σ、3σ、6σ、Ca、Cp、Cpkなど)は自動的に記録され、アーカイブされます。履歴抽出のためのフィルター条件は、オペレーターが選択できます。 ストラティスティックス トレンドグラフは、測定値の単調変化や周期変化などの規則的なトレンドを表示し、生産設備の生産プロセスの異常監視に利用できます。 ...
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... ]、特殊 [アプリケーションツール] (ピッチ距離、ピッチ角度、スロット、ネジ、ラウンドクロス、ダウン角度、角丸など) が提供されます。 測定結果とその主な統計値(平均値、σ、3σ、6σ、Ca、Cp、Cpkなど)は自動的に記録され、アーカイブされます。履歴抽出のためのフィルター条件は、オペレーターが選択できます。 ストラティスティックス トレンドグラフは、測定値の単調変化や周期変化などの規則的なトレンドを表示し、生産設備の生産プロセスの異常監視に利用できます。 ...
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... 形状許容]、特殊 [アプリケーションツール] (ピッチ距離、ピッチ角度、スロット、ネジ、ラウンドクロス、ダウン角度、角丸など)などがあります。 測定結果とその主な統計値(平均値、σ、3σ、6σ、Ca、Cp、Cpkなど)は自動的に記録され、アーカイブされます。履歴抽出のためのフィルター条件は、オペレーターが選択できます。 ストラティスティックス トレンドグラフは、測定値の単調変化や周期変化などの規則的なトレンドを表示し、生産設備の生産プロセスの異常監視に利用できます。 ...
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... 形状許容]、特殊 [アプリケーションツール] (ピッチ距離、ピッチ角度、スロット、ネジ、ラウンドクロス、ダウン角度、角丸など)などがあります。 測定結果とその主な統計値(平均値、σ、3σ、6σ、Ca、Cp、Cpkなど)は自動的に記録され、アーカイブされます。履歴抽出のためのフィルター条件は、オペレーターが選択できます。 ストラティスティックス トレンドグラフは、測定値の単調変化や周期変化などの規則的なトレンドを表示し、生産設備の生産プロセスの異常監視に利用できます。 ...
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... VX3000シリーズは、精密画像解析アルゴリズムによる視覚測定原理に基づき、被写界深度の深いダブルテレセントリック光学レンズを搭載し、ワンキー操作による高速寸法測定を実現したフラッシュメジャリングマシンです。VX3000シリーズは、機械、電子、金型、射出成形、ハードウェア、ゴム、低電圧電気製品、磁性材料、精密プレス、コネクタ、端子、携帯電話、家電、プリント基板、医療機器、時計、切削工具などの分野での精密寸法測定に適しています。 アプリケーション VisionXソフトウェアは、最大80の抽出分析ツール ...
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... 形状許容]、特殊 [アプリケーションツール] (ピッチ距離、ピッチ角度、スロット、ネジ、ラウンドクロス、ダウン角度、角丸など)などがあります。 測定結果とその主な統計値(平均値、σ、3σ、6σ、Ca、Cp、Cpkなど)は自動的に記録され、アーカイブされます。履歴抽出のためのフィルター条件は、オペレーターが選択できます。 ストラティスティックス トレンドグラフは、測定値の単調変化や周期変化などの規則的なトレンドを表示し、生産設備の生産プロセスの異常監視に利用できます。 ...
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