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Hitachi/日立のX線検出器
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... 処理できることである。 - 蛍光X線(XRF)分光法(バルクおよび微小蛍光の両方 - マイクロ蛍光X線分析(近日中にサイズ追加可能) - X線回折(XRD) - 粒子誘起X線発光(PIXE) - 全反射蛍光X線分析 (TXRF) - 放射光アプリケーション - プロセス制御 Vortexは室温に近い温度で作動し、サーモエレクトリック・クーラー(TEC)によって冷却されます。冷却時間は通常2分未満です。 Vortex ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH/日立
... 高計数率を処理できることである。 - 蛍光X線(XRF)分光法(バルクおよび微小蛍光の両方 - マイクロ蛍光X線分析(近日中にサイズ追加可能) - X線回折(XRD) - 粒子誘起X線発光(PIXE) - 全反射蛍光X線分析 (TXRF) - 放射光アプリケーション Vortex-EXは室温に近い温度で動作し、サーモエレクトリック冷却器(TEC)によって冷却されます。冷却時間は通常2分未満です。 Vortex-EX ...
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... えながら、高計数率を処理できることである。 蛍光X線(XRF)分光法(バルクおよび微小蛍光の両方 マイクロ蛍光X線分析(近日中にサイズ追加可能) X線回折(XRD) 粒子誘起X線発光(PIXE) 全反射蛍光X線分析 (TXRF) 放射光アプリケーション Vortex-90EXは室温に近い温度で動作し、サーモエレクトリック冷却器(TEC)によって冷却されます。冷却時間は通常2分未満です。 Vortex-90EXのX線分光システムには、検出器ユニットと、検出器、TEC、およびオプションのPI-SPECソフトウェア ...
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... 高計数率を処理できることである。 - 蛍光X線(XRF)分光法(バルクおよび微小蛍光の両方 - SEMおよびTEM用の微小分析 - 放射光アプリケーション - 粒子誘起X線放出(PIXE) - 高速X線マッピング Vortex-EMは室温に近い温度で作動し、サーモエレクトリック・クーラー(TEC)によって冷却されます。冷却時間は通常2分未満です。 Vortex-EM ...
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... えながら、高計数率を処理できることである。 - 蛍光X線(XRF)分光法(バルクおよび微小蛍光の両方 - X線回折(XRD)と蛍光X線(XRF) - 粒子誘起X線発光(PIXE) - 放射光アプリケーション Vortex-EZは室温に近い温度で動作し、サーモエレクトリック・クーラー(TEC)によって冷却されます。冷却時間は通常2分未満です。 Vortex-EZのX線分光システムには、検出器ユニットとコントロールボックスが含まれ、これには検出器用電源、TEC、PI-SPECソフトウェア付きデジタルパルスプロセッサー ...
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... 素子シリコンドリフト検出器(SDD)X線検出システムです。 Vortex-ME3は、優れたエネルギー分解能と高いスループット性能により、X線分光システムの総合的な分析性能を向上させます。 Vortex-ME3は、限られたスペースしかないチャンバー内でも挿入して使用できるように、立体角を最大化し、狭い長方形のスナウトを備えた特別な焦点設計となっています。焦点距離はお客様のご要望に応じて設計可能です。 蛍光X線(XRF)分光法(バルクと微小蛍光の両方 放射光アプリケーション 高速X線マッピング 水平ジオメトリー ...
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... 素子シリコンドリフト検出器(SDD)X線検出システムです。 Vortex-ME7は、優れたエネルギー分解能とハイスループット性能により、X線スペクトロメトリーシステムの総合的な分析性能を向上させます。 蛍光X線(XRF)分光法、バルクおよび微小蛍光の両方 放射光アプリケーション プロセス制御 高速X線マッピング Vortex-ME7 ...
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