Microtestの自動試験機器

... Si、SiC、GaNパワー製品（ハイサイド、ローサイドドライバーIC、IGBT、パワーMOSFET、パワーIC）に対応した新世代の自動テスト装置です。 構成 VIP Ultra STD 80V - 250A（48サイト） VIP Ultra HV 1.7kV - 250A（32サイト） VIP Ultra HV 4kV - 250A（16サイト） ハイライト - 電力製品で最も低いTCO - 2倍のスループット - 最小の設置面積 あらゆるパワーアプリケーションに対応する決定版プラットフォーム ...

... テーラーメイドのテストソリューションのためのDMTシステム。ハードウェアの高集積化による小さな設置面積、超高密度テスター。限られたスペースで標準的なビッグフットプリントテスター以上のリソースを提供します。 ハイライト - 市場で最も低いフットプリント - 自動コードジェネレーター（Kronos） - 市場投入までの時間を大幅に短縮 - 新しいICを数週間で検証 - デバッグ用統合オシロスコープ - 最大5スロットの柔軟な構成 主な特長 - ...

... 性能 - 試験の限界に挑戦 車載アプリケーション向けに特別に設計された最大7,500Aの短絡試験により、シュートスルーなどの実際のストレスイベントをシミュレートします。ハード・ドック・インターフェースにより、被試験デバイスを試験ステーションの近くに接続でき、寄生インダクタンスを最小限に抑えることができます。標準寄生インダクタンスは20～40nHで、オーバーシュートを最小限に抑えた超高速スイッチング速度を実現。これにより、デバイスの限界を超える電圧オーバーシュートのリスクなしに、試験ランプ時間が大幅 ...

... Si、SiC、GaNパワー製品、ハイサイドおよびローサイドドライバIC、IGBT、パワーMOSFET、パワーIC用に構成可能な自動テスト装置。 ハイライト - ウェハソートとストリップテスト用の高UPH - Rg、Cg、UiSの48×サイト・パラレル・テスト - パワー製品で最も低いCOT 主な特長 - DC[4象限グラウンド参照]ソース 中電力：最大64リソース[±110V、±4A］ - DCプログラマブル・シンク/ソース電流：最大64リソース ...

... MEMSデバイステスト用超小型ソリューション MEMS、オープン/ショート、コンシューマ・ロジックなどの超高並列、低複雑性市場向けの柔軟で低コストのATEです。 ハイライト - 大ピン数のV/IおよびDPS - 高ピン数のデジタル - 極めて柔軟な統合Mux - 0フットプリント、サイトあたりの低コスト - 容易なオートメーション統合 主な特徴 - 2つのDCS_1A（フォースとセンス）ソースをモジュールごとに256の異なる位置に多重化 - モジュールあたり256の異なる位置で多重化された12デジタル・チャンネル - ...

... い処理能力を発揮するハンドラー セルシオEVOは、高度にダイナミックな温度制御システムを備えた特性評価用ピックアンドプレースハンドラーで、試験中にDUTの温度を最高150℃、最低-45℃まで維持することができます。 ハイライト - 小さな設置面積を維持しながら、驚異的な高速化を実現 - 高温に対応する革新的なヒーター技術 - 自動外観検査と位置補正 - 試験中の高度に動的な温度制御システム（最高150℃、最低-45） - ...

... ipTEST社のM2ダイナミック・スイッチ・テスターは、製造の各段階におけるワイドバンドギャップ・パワーデバイスの包括的な試験機能を提供します。これらの先進的なテスタは、低出力のGaNやSiベースのデバイスから、自動車や送電アプリケーションで使用される最高出力のSiCデバイスやモジュールまで、さまざまなデバイスに対応します。これらのテスターは、高速スルー・レートと、200ms以下で決定的に減衰した高品質のテスト波形を保証します。 テストの柔軟性 ラボでもラインでも、デバイスのあらゆる側面をテスト ...