Thermo Fisherの電子顕微鏡

倍率 : 160 unit - 200,000 unit
分解能: 0 nm - 10 nm
重量: 75 kg

... SEMより速いスループット Thermo Scientific Phenom ParticleX Battery Desktop SEMは、卓越した速度と精度を提供します。従来の走査型 電子 顕微鏡の最大10倍のスループットを実現し、短時間で分析を完了できます。また、統合された自動化機能により、使いやすさがさらに向上し、 顕微鏡の使用時間を大幅に短縮し、全体的な生産性を高めます。日常的な検査から詳細な調査まで、Phenom ...

倍率 : 2,000,000 unit
分解能: 10, 3, 2, 200, 400 nm
重量: 75 kg

... がより多くの成果を上げることができるということです。 Phenom Pharos G2 Desktop FEG-SEMがこのようなメリットを提供できるのは、その 電子源のおかげでもあります。この 電子源は、微小な電磁場で 電子を取り出すフィールドエミッションガンを使用しています。これにより、ビームに敏感なサンプルの分析が可能になると同時に、 顕微鏡の制御性が向上します。 ナノスケールへの挑戦 小さな粒子を高分解能で分析 わずか1時間のトレーニング ハイエンドFEG-SEM分析の世界を誰にでも開くことができます ...

分解能: 0.7, 1, 0.6 nm

... 走査型 電子 顕微鏡によるナノ材料のサブナノメートルの分解能と高い材料コントラストによる特性評価。 Verios 5 XHR 走査型 電子 顕微鏡 Verios 5 XHRは、1 keVから30 keVの全エネルギー範囲においてサブナノメートルの分解能と優れた材料コントラストを有するSEMです。自動化と使いやすさの追求により、あらゆるレベルのユーザーがこの性能を利用できるようになりました。 走査型 電子 顕微鏡による特性評価 - ...

分解能: 0.7, 0.8, 1 nm
幅: 340 mm

... また、モジュール式のThermo Scientific Apreo 2 SEMと簡単に組み合わせることができるため、さまざまな試料を扱うマルチユース環境に最適です。2D大面積SEMイメージング、アレイトモグラフィー、走査型透過 電子 顕微鏡（STEM）、クライオSEM、相関型光 電子 顕微鏡（CLEM）、エネルギー分散型X線分光法（EDS）など、1台のSEMプラットフォームで複数の測定モードが利用できます。 ボリューメスコープ2 ...

分解能: 0.3 nm - 1.5 nm
重量: 500 g

... 可能。 FIBサンプル前処理 新しいサーモ・サイエンティフィック Helios 5 DualBeam は、業界をリードする Helios DualBeam ファミリーの高性能イメージングおよび分析機能をベースにしています。集束イオンビーム走査型 電子 顕微鏡（FIB-SEM）の幅広いユースケースにおいて、材料科学の研究者やエンジニアのニーズを満たすように慎重に設計されています。 Helios 5 DualBeam は、高い材料コントラストを備えた高分解能イメージング、(S)TEM ...

分解能: 1.2, 0.6, 1, 0.7 nm

... 3D特性評価、断面加工、微細加工を含むTEM試料作成用のプラズマ集束イオンビーム走査 電子 顕微鏡。 Thermo Scientific Helios 5 Plasma FIB (PFIB) DualBeam (FIB-SEM) は、材料科学と半導体アプリケーションに比類ない能力を提供します。Helios 5 PFIB DualBeam は、材料科学の研究者に対して、大容量の 3D 特性評価、ガリウムフリーの試料調製、精密な微細加工を提供します。半導体デバイス、高度なパッケージング技術、ディスプレイデバイス ...

... ビームに敏感な材料のイメージングと分光のための走査型透過 電子 顕微鏡。 スペクトラウルトラ走査透過 電子 顕微鏡 TEMとSTEMイメージングを真に最適化するためには、EDXとEELSを異なる加速電圧で異なる信号を取得する必要があります。そのルールは試料によって異なりますが、一般的には以下のように考えられています：1) 最良のイメージングを行うには、可視損傷が発生する可能な限り高い加速電圧で行うこと。2) ...