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倍率 : 160 unit - 200,000 unit
分解能: 0 nm - 10 nm
重量: 75 kg
... ペースの速い電池製造と分析の世界では、迅速なスループットがすべてです。しかし、精密な粒子分析も同様です。Thermo Scientific Phenom ParticleX Battery Desktop SEMは、その両方を実現します。 市販の自動品質管理SEMの最大10倍のスループットを実現し、最大49サンプルを同時に分析できます。重要なのは、これをマイクロスケールで行うことで、微小な不純物まで検出し、最終製品の安全性と性能の確保に貢献することです。 このコンパクトなシステムを際立たせているのは、統合されたThermo ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
倍率 : 2,000,000 unit
分解能: 10, 3, 2, 200, 400 nm
重量: 75 kg
... Thermo Scientific Phenom Pharos G2 Desktop FEG-SEMは、微小粒子を高分解能で、しかも高速に分析できるように設計されています。しかし、多忙なラボの管理者にとって同様に重要なことは、大規模なトレーニングを必要とせず、これらすべてを提供できるため、より多くのラボスタッフがより多くの成果を上げることができるということです。 Phenom Pharos G2 Desktop FEG-SEMがこのようなメリットを提供できるのは、その電子源のおかげでもあります。この電子源は、微小な電磁場で電子を取り出すフィールドエミッションガンを使用しています。これにより、ビームに敏感なサンプルの分析が可能になると同時に、顕微鏡の制御性が向上します。 ナノスケールへの挑戦 小さな粒子を高分解能で分析 わずか1時間のトレーニング ハイエンドFEG-SEM分析の世界を誰にでも開くことができます。 ビームに敏感なサンプルに最適 Phenom ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
分解能: 0.7, 1, 0.6 nm
... 走査型電子顕微鏡によるナノ材料のサブナノメートルの分解能と高い材料コントラストによる特性評価。 Verios 5 XHR 走査型電子顕微鏡 Verios 5 XHRは、1 keVから30 keVの全エネルギー範囲においてサブナノメートルの分解能と優れた材料コントラストを有するSEMです。自動化と使いやすさの追求により、あらゆるレベルのユーザーがこの性能を利用できるようになりました。 走査型電子顕微鏡による特性評価 - UC+単色電子源による高分解能ナノマテリアルイメージングは、1-30 kVでサブナノメートルの性能を発揮します。 - ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
分解能: 0.7, 1.2 nm
... ZEISS GeminiSEMは、サブナノメートルの分解能での手間のかからないイメージングを実現します。これらのFE-SEM（電界放出型走査電子顕微鏡）は、卓越したイメージングと解析能力を兼ね備えています。電子光学系のイノベーションと新しいチャンバー設計により、画質、操作性、柔軟性が向上しました。イマージョンレンズを使用せずに1 kV以下でサブナノメートル画像を取得できます。ZEISS Gemini電子光学系の3種類のユニークな設計をご覧ください。 GeminiSEM 360はコアファシリティに最適な装置であり、材料科学、生命科学、産業調査で非常に幅広く利用できます。ZEISS ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
... EVOファミリーの装置は、高性能な走査電子顕微鏡と直感的でユーザーフレンドリーな使い勝手を兼ね備えており、熟練の顕微鏡ユーザーにも初心者ユーザーにも魅力的なソリューションです。EVOには、生命科学、材料科学、産業界のルーチン品質保証業務や故障解析など、様々な分野の要件に対応できるよう、豊富なオプションが揃っています。 中央顕微鏡検査施設や産業の品質保証研究機関向けの多用途なソリューション 現実世界のあらゆる試料から優れた画像を取得可能 六ホウ化ランタン（LaB6）放出体による最高レベルの画質 ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
イメージングと分析性能を兼ね備えた高分解能電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM）に、次世代集束イオンビーム（FIB）の処理能力を統合しました。研究所などの複数のユーザーが利用する研究施設に最適です。ZEISS Crossbeamのモジュラープラットフォームなら、大量の材料アブレーションにLaserFIBを使用するなど、増大するニーズに合わせて既存システムをアップグレードできます。ミリング、イメージングや3D解析において、CrossbeamがFIB使用時の作業をスピードアップさせます。 ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
倍率 : 3,000,000 unit
分解能: 0.8, 0.4, 1.2 nm
... 超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡 SU9000II コールドFE電子源は、他の電子源と比べて光源径やエネルギー幅が小さいので、高分解能観察に適しています。さらに高輝度かつ安定性な新型コールドFE電子銃を搭載したSU9000IIは高分解能観察のみならず、高品質な元素分析が可能です。それらの性能を発揮したデータを安定して取得できるよう、光学系の自動調整機能やデータ取得自動化を支援するオプション機能を搭載し、大量データの自動取得を可能にしました。 また、インレンズ形対物レンズを備えたSU9000IIは、EELSの測定が可能です。 SU9000IIは日立FE-SEMの最上位機種です。 低収差レンズの最高峰であるインレンズ型対物レンズを搭載したSU9000IIは、世界最高分解能 ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH/日立
倍率 : 20 unit - 2,000,000 unit
分解能: 0.9, 0.6 nm
... SU8700は高空間分解能と多様な信号検出による観察能力で、デバイスや材料の解析からライフサイエンスまで幅広い分野での観察・分析業務をサポートします。 ショットキーFE電子銃搭載により、極低加速電圧観察から大照射電流を要する高速分析まで幅広い解析手法に対応します。 光学系の自動調整機能やデータ取得自動化を支援するオプション機能を搭載し、大量データの自動取得を可能にしました。 * 装置写真はオプション付属の状態です。 価格：お問い合わせください 取扱会社：株式会社 日立ハイテク 多様な観察条件を可能にするショットキーエミッター搭載FE-SEM 100Vまでの低加速電圧と最大200nAまでの照射電流 低真空モード対応 多様な情報を取得する検出系 スループット向上を支援する自動化機能搭載 SU8700は光学系の自動調整機能を搭載しており、ユーザーの操作負荷を低減します。また、オプション機能 ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH/日立
倍率 : 20 unit - 2,000,000 unit
分解能: 0.7, 0.6 nm
... 超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡 SU8600 SU8600 は高空間分解能と多様な信号検出による観察能力で、デバイスや材料の解析からライフサイエンスまで幅広い分野での観察・分析業務をサポートします。 高輝度コールドFE電子銃と検出信号制御機能により、高コントラスト像を高い分解能で提供します。 光学系の自動調整機能やデータ取得自動化を支援するオプション機能を搭載し、大量データの自動取得を可能にしました。 低エネルギー観察条件での超高分解能像 高輝度のコールドFE電子銃により低エネルギー条件でも高い分解能を維持します。 セミインレンズ対物レンズとExB光学系による高効率信号検出により、低エネルギー/低電流条件でも高いS/Nの画像を提供します。 高コントラストの低加速反射電子像 ExB光学系と検出信号制御機能により、目的に応じて二次電子/反射電子信号を分離しての画像取得が可能です。 右の画像では3D ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH/日立
... 「短時間に、簡単操作で、高コントラスト・高分解能の画像を取得」 CRYO ARM™ 300 II は、タンパク質に代表される電子線照射に弱い試料の観察に特化した、クライオ電子顕微鏡です。単粒子構造解析やトモグラフィー、電子線結晶構造解析などの各手法に対応しています。 CRYO ARM™ 300 II は、顕微鏡の安定性とスループットの更なる向上だけでなく、操作性もよりシンプルになっています。また、サンプルのスクリーニングから画像データ取得までを一体化した顕微鏡です。そしてユーザーに合わせた運用を可能にする高い自由度を持っています。顕微鏡に不慣れな方であっても、簡単な操作で質の高い顕微鏡写真を得られる次世代のクライオ電子顕微鏡です。 特長 ハイスループット －効率的で生産性が向上するシステム－ 短時間でのデータ取得 精密なステージ移動を伴う多点撮影には時間が掛かります。そこでJEM-3300 ...
Jeol
倍率 : 50 unit
重量: 45 kg
... 電子デバイスの検査に最適な大型正立顕微鏡 ニコンCFI60-2の優れた光学系により、目視観察とデジタルイメージングのどちらにおいても優れた画像を提供。卓越した照明系と組み合わせることで、高コントラスト‧高解像度の画像が得られます。 ECLIPSE L300ND, L300N , L200ND, L200N 17型FPD、200㎜/300㎜ウェハなどの顕微鏡検査が可能です。 CFI60-2対物レンズ ニコンの革新的な設計により、高NAと長作動距離を両立。クリアな明視野、暗視野、簡易偏光、微分干渉観察を高い操作性で行えます。 顕微鏡デジタルカメラ ...
倍率 : 20 unit - 220 unit
重量: 125 g
長さ: 10.5 cm
... Dino-Lite AM5218MZT Edgeは、ダイレクトデジタルDVI/HDMIインターフェースにより、HDTVまたはLCDモニターに直接接続することができます。シャープで鮮やかなHD 720p解像度を提供し、細部まで表示します。 AM5218MZTエッジは、PCBやその他の小型オブジェクトの作業など、リアルタイムの画像が重要な場面で理想的な選択肢となります。顕微鏡のマイクロタッチセンサーをタップすると、重要な細部を検査するために画像をフリーズすることができ、マイクロタッチセンサーを2秒間押すと、LEDのオン/オフを切り替えることができます。アルミニウム製ハウジングは保護と耐久性を強化し、最高の外観と使用感を提供します。内蔵の調整可能な偏光板は、金属表面、電子機器、プラスチックなど、光沢のある対象物への映り込みや反射を抑えます。 仕様 照明 ライト/ ...
... 自動ブリネル測定用デジタルマイクロスコープ ISO 6506-ASTM E10 電子顕微鏡、Ø2.5または5または10mmのボールでブリネル自動圧痕測定用 •ユーザーフレンドリーでコンパクト •自動光調整 •測定精度と再現性 +/-1% v •設置可能Windows® PCで •データと画像をJpg、Bmp、pdF、excel、tXt、csV形式でエクスポートします •結果と統計情報をレポートを作成して印刷します •リモートデータネットワーク、キャリブレーション、サービス、ソフトウェアアップデートのためのインターネット接続 ソフトウェアは、設定を回避して全体の測定を制御しますエラーやオペレータ ...
分解能: 20 nm
... 表面感受性顕微鏡 20 nm 横方向分解能 局所分光法 k 空間イメージング MUHVシステムとの互換性 A FOCUS 製品 光電子顕微鏡（PEEM）は非常に強力なイメージング技術であり、その多用途地形のための汎用性、 化学的および磁気的コントラストイメージングは、多くの実験室および放射光アプリケーションで実証されています。 磁気デバイスの特性評価への重要な貢献、プラズモン研究、表面化学、放射光と組み合わせた高横方向分解能化学分析、時間分解プロセスの調査、k 空間イメージングは、アクティブPEEMベースの ...
倍率 : 300,000 unit
分解能: 4, 7, 3 nm
重量: 480 kg
CIQTEK SEM3200 は、高性能タングステン フィラメント走査型電子顕微鏡です。高真空モードと低真空モードの両方で優れた画像品質機能を備えています。また、被写界深度が広く、サンプルの特性を評価するためのユーザーフレンドリーな環境も備えています。さらに、豊富な拡張性により、ユーザーは顕微鏡イメージングの世界を探索することができます。
CIQTEK Co., Ltd.
