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SEM-ラマンシステムは、1 台のシステムで、サンプルの特性を包括的に in situ 測定できます。2 種類のテクノロジーを統合することで、利便性、効率、生産性を向上します。 レニショーの Structural and Chemical Analyser (SCA) インターフェースを使用すると、走査型電子顕微鏡 (SEM) で inVia のラマンポイント測定とマッピング能力を活用できるようになります。 ラマンと SEM inVia と SCA ...
... ZEISS Xradia 410 Versa 3Dサブミクロンイメージングのためのワークホースソリューション 研究室ベースの非破壊サブミクロン顕微鏡のギャップを埋める Xradia 410 Versaは、高性能なX線顕微鏡とそれほど強力ではないCT（コンピュータ断層撮影）システムの間のギャップを埋めます。Xradia 410 Versaは、業界最高の解像度、コントラスト、およびin situ機能を備えた非破壊的な3Dイメージングを提供し、幅広いサンプルサイズで画期的な研究を実現します。多様なラボ環境でも、このパワフルでコスト効率の高い「ワークホース」ソリューションでイメージングワークフローを強化します。 ハイライト 業界をリードする4Dおよびその場での柔軟なサンプルサイズとタイプの機能 Xradia ...
ZEISS Industrial Metrology
... XGT-7200は、光学および部品分析機能にわたってリムレスな統一を提供する最新のXRF顕微鏡を導入しています。 これは、マイクロ分析技術の大きな変化をもたらし、調査科学者のための日常的なデバイスとしてマイクロXRFを達成します。 さらに、計算ごとに高い適応性を保証するための特別なハードウェアで構成されています。 マイクロおよびマクロの様々な計算で条件を最大化できるよう、直径10µmから1.2mmの2つのソフトウェア制御X線管があります。 特別なツイン真空バージョンは、柔軟に飼いならされた真空モードを備えた、より大きな反応性完全真空モードを越えて数秒以内にシフトすることができます。 ...
HORIBA Scientific
分解能: 0.5 µm
... nano3DX Rigaku nano3DXは、比較的大きなサンプルの3Dコンピュータ断層撮影（CT）画像を高解像度で提供する機能を備えた真のX 線顕微鏡（XRM）です。 これは、高出力の回転陽極 X 線源と高分解能 CCD 検出器を使用することによって達成されます。 回転陽極は高速なデータ収集を可能にし、陽極材料を簡単に切り替え、特定のサンプルタイプのコントラストを最適化する機能を提供します。 X 線顕微鏡とは？ 断層撮影とは、物体を薄い部分にスライスして3 ...
... 大容量 3 次元 X 線顕微鏡 SKYSCAN 1273は、マイクロコンピュータ断層撮影（Micro-CT）技術に基づくブルーカーの最新ベンチトップ3D X 線顕微鏡です。 最大長 500mm、直径 300mm、最大重量 20kgのサンプルを収容できます。これは、ベンチトップ機器を使用した非破壊試験（NDT）の新しい標準です。 クラス最高のコンポーネントは、SKYSCAN 1273を実際のパワーパックに変えます。 高出力で動作する高エネルギーX 線源と、究極の感度と速度を備えた大判フラットパネル検出器の組み合わせにより、わずか数秒で優れた画質を実現します。 ...
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