カメラ型ビームプロファイラ

高出力ディスク&ファイバーレーザー測定 非接触ビームプロファイラー 概要: BeamWatchビームウォッチ（特許取得済み）非接触ビームモニタリングシステムは、kWクラスの高出力ディスク・ファイバーレーザー（波長帯域980-1080nm）のビームプロファイル計測に対応。レイリー散乱の信号を計測。レーザー光は機構や光の特性に影響を与えることなく直接システム内部を通過し計測。システムは稼動部品が必要ない構成となっているので部品の冷却必要。数kWクラスの工業用高出力レーザービームプロファイル計測に最適。 ビームウエスト幅（スポット径55um） 測定出力400W以上（最大100kW検証済み） GigEカメラインターフェース ソフトウェア付属 お問合せ

自動化製造システム向けビームプロファイリングシステム 概要: BeamWatch Integratedは、生産ラインの重要なレーザービームのパラメーターを測定するために設計された、完全に自動化され たレーザー測定システムです。 最大パワー10kW（要求に応じて最大30kW）の集光ビームの、あらゆる重要なレーザービームのパラメーターを測定します。 測定可能なパラメーターは以下の通りです。 ウエスト（集光スポット）幅と位置 焦点シフト 重心 M2またはK 拡がり角 BPP レイリー長 平均パワー 傾き角 完全自動操作 良好／不良信号による傾向分析 タイムスタンプ付き詳細レポート 測定システムを変更せずに、異なる種類の ...

概要: BeamWatch AMビームウォッチAMは、レーザーを使用したアディティブマニュファクチャリング、または3Dプリンターシステム用の重要なレーザービームパラメーターを測定する為に設計されました。 BeamWatch AMビームウォッチAMは、カメラの視野（FOV）内のビーム集光曲線に沿った複数のプロファイルの同時計測が可能です。 リアルタイム測定では各ビデオレートで以下の値を測定します： • ウエスト（集光スポット）幅と位置 • 焦点シフト • ...

ニアフィールド用プロファイラー・アクセサリー 概要: ニアフィールドプロファイラーはCCDプロファイラーとスリット式スキャニングカメラ両方で使用可能で極小ビームをプロファイル可能。ディテクターアレイのピクセルサイズのために測定できない極小ビームを拡大。

... CAM SQUARED Imagine Optic社の最新製品であるM2測定システム "CAM SQUARED "は、レーザービーム品質の正確で信頼性の高い分析を提供します。 ISO 11146規格では、少なくとも10面の観察面における強度分布が要求され、そこからM二乗係数が計算されます。これらは通常、光軸に沿って移動するカメラを使用して取得されます。Imagine Optic社は、必要なデータセットを1ショットで取得できる革新的なアプローチを提案します。 ...