厚み測定用分光器

直感的で簡単操作 *TM4000 II/TM4000Plus IIとの組み合わせ例 *検出器内蔵型 （製造元：ドイツBruker nano GmbH） 価格：お問い合わせください 取扱会社：株式会社 日立ハイテク 特長 簡単操作で迅速なカラーX線マップ 指定したスポット位置の移動に対応してスペクトル確認が可能 デュアルモード表示 画像とテンプレートを選択するだけで、Word®、Excel®、マッピングをしながらリアルタイムでポイント分析、ライン分析結果を表示。多面的に解析が可能です。 ハイパーマップにより、一度の測定でスポット分析・ライン分析・マッピング結果を取得可能 スポット分析 スポット位置の移動に合わせてリアルタイムでスペクトルが追従するので、目的元素の確認が容易に行えます。 リアルタイムピーク分離（オンラインデコンボリューション）マップ 通常のマップでは重なってしまう元素を、リアルタイムでピーク分離し正しい結果を表示します。

TMシリーズ専用エネルギー分散型X線分析装置 AZtecシリーズ • エネルギー分解能：129 eV（Mn-Kα）相当の高性能検出器 • Live EDSは観察位置の元素情報をリアルタイムに表示 • 高精度パイルアップ補正機能によるハイスループット分析が可能 • TruMap機能でピークが重なる元素を分離して正しく表示 価格：お問い合わせください 取扱会社：株式会社 日立ハイテク 特長 AZtecシリーズは、以下3機種をラインアップしています。 • ...

... プリント基板用プロフェッショナルシリーズ。 信頼性が高く、全自動！XDV®-µ PCB装置は、PCB上の極小構造物や極薄コーティングの測定に特化したソリューションです。 短い測定時間でも最高の精度を実現するFischer DPP+ ¹。 最小スポットサイズ10 µm（FWHM）の自社製ポリキャピラリー光学系²。 自動画像認識による信頼性の高い微小構造物の測定 プリント基板の自動蛍光X線品質管理 FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ PCB は、蛍光X線によるプリント基板の信頼性の高い品質管理を実現する真のスペシャリストです。強力なシリコンドリフト検出器、マイクロフォーカスチューブウルトラ、ポリキャピラリー光学系により、この蛍光X線分析装置は非常に小さな測定スポットで非常に高い強度で測定します。これにより、最も薄い層でも確実に測定することができます。この装置は、ENIGおよびENEPIGのIPC要件4552および4556、ならびに4553A（銀）および4554（スズ）にも適合しています。 あらゆる課題に対応 野心的な測定タスクに信頼性の高い高速測定結果 完全自動化。 測定器にお任せください プリント基板のエキスパート IPC規格に準拠したプリント基板測定ソリューション 市場で最も先進的なポリキャピラリー光学部品。 自社製造のポリキャピラリー光学部品は、短い測定時間で優れた測定結果を提供します。 正確で精密。 自動画像認識による微小構造物の測定ポイントの位置決め 試運転。 極めて迅速で簡単 DPP+デジタルパルスプロセッサー 測定時間の短縮または標準偏差*の改善 ...

波長: 200 nm - 1,000 nm

... 特徴： -小型、コンパクトサイズ -カスタマイズされた波長範囲 -カスタマイズされた解像度 -使いやすい ...