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DiscoveryレーザーフラッシュDLF 2800は、室温から最高2800℃までの材料の熱拡散率と比熱容量を測定する先進の自立型機器です。独自のレーザー、レーザー光学、センサー、ファーナステクノロジーを統合した設計で、独自の6ポジションサンプルカローセルを備え、かつてない優れた測定精度とサンプルスループットを実現します。不活性ガスや真空状態などさまざまな雰囲気条件で操作可能なDLF 2800は、ポリマー、セラミック、炭素、黒鉛、合成材料、ガラス、金属、合金を含む幅広い材料の特性評価を行うことができます。 競合製品のデザインと比較して40%以上のエネルギー出力を備えたパワフルなレーザーで、厚みや熱伝導に関係なく、最高温度および幅広い種類のサンプルの試験を正確に行う 独自の光ファイバーワンドは、測定精度を向上させるためにサンプルで99％均一なビームを出力する 比類なきスループットと正確な比熱容量測定を行う独自の6ポジションカローセル 幅広い試験範囲に対応するさまざまなサンプルホルダー、アダプター、特殊な冶具で構成可能な柔軟なカローセルの設計 室温から2800℃までの優れた温度性能および活性ガスや真空での測定を実現する高度なファーナス 最適な信号雑音比の高感度IR検出センサーを備え、全温度範囲で最高精度を実現 薄く、伝導率の高い材料を試験するための熱拡散率測定の比類のない正確さのためのリアルタイムなパルスマッピング ASTM ...
DiscoveryレーザーフラッシュDLF 1600は、室温から最高1600℃までの材料の熱拡散率と比熱容量を測定する先進の自立型機器です。独自のレーザー、レーザー光学、センサー、ファーナステクノロジーを統合した設計で、独自の高純度アルミナ製5ポジションサンプルカローセルを備え、かつてない優れた測定精度とサンプルスループットを実現します。空気、不活性ガス、真空状態などさまざまな雰囲気条件で操作可能なDLF 1600は、ポリマー、セラミック、炭素、黒鉛、合成材料、ガラス、金属、合金を含む幅広い材料の特性評価を行うことができます。 競合デザインと比較して40%以上のエネルギー出力を備えたパワフルなレーザーで、厚みや熱伝導に関係なく、最高温度および幅広い種類のサンプルの試験を正確に行う 独自の光ファイバーワンドにより、99%の均一な光線を出力。サンプルに均一な放射線を照射する 比類なきスループットと優れた比熱容量測定を行う特許取得*の5ポジションカローセル フレキシブルなカローセルの設計、さまざまなサンプルホルダーで設定可能、幅広い試験に対応するアダプターと特殊な冶具 室温から1600℃までの優れた温度性能および空気、活性ガス、真空での測定を実現する高度なアルミナ製マッフル管ファーナス 最適な信号雑音比の高感度IR検出センサーを備え、全温度範囲で最高精度を実現 薄く、伝導率の高い材料の熱拡散率のリアルタイムなパルスマッピング ASTM ...
小さく強力な卓上型のレーザーフラッシュ法熱拡散率測定システムは、Class 1 Nd:ガラスレーザー源を備え、 コリメート式の単色15ジュールエネルギーパルスを発生させ、室温から1200℃までで熱拡散率を測定できます。 Discovery Laser Flash DLF 1200はカスタム式のClass 1 Nd:ガラスレーザーパルス源を備え、パルス幅300 μs～400 μsのコリメート式単色エネルギーパルスを発生させます。最高温度1200℃までの検体の熱伝導率、熱拡散率、熱容量を測定する必要のある研究室、または、省スペースの卓上レーザー源に固有の単色パルスを必要とする研究室に最適です。 サンプル遷移温度は液体窒素冷却式の赤外線検出器によって測定されます。 DLF ...
... NBSシリーズは、熱雑音と黒体放射の主要な基本物理定数に基づいた校正用標準器で構成されています。極めて低いノイズ値（ノイズ温度）を測定する際に、究極の精度を提供します。シンプルで多目的に使用できるNBSシリーズは、ノイズ源の校正、放射計のテストリファレンス、低ノイズアンプのテストに理想的なソリューションです。 拡張可能な周波数範囲：18～325 GHz 2～3倍の精度 自動窒素パージによりヘリウム装置が不要 一次校正標準 放射計基準ソース SATCOM地球局の適合性検証 ...
⊿VF法によるLED熱抵抗測定 大電流対応により、LED素子及びLEDモジュール測定へ対応 電源の「高速応答性」「安定性」「大電流対応」 ⇒ 定常&過渡熱抵抗測定の実現 温度係数測定機能（恒温槽との取り合い可能） 多素子切替機能（MAX100ch） 順方向電流(IF) - 0.1～3A(0.1A STEP) 順方向電圧(VF) - ～20V，～100V *選択 通電設定時間(PW) - 50µs～3600sec (1sec STEP) 検出タイミング(td) ...
過渡熱抵抗測定装置は、IGBT/MOS-FET/Diod/BJT等の過渡熱抵抗を測定する装置です。 BJT (Bipolar Junction Transistor)過渡熱抵抗測定装置 トランジスターのベース・エミッター間に微少電流を流し、その時のベース・エミッター間電圧を計り、その後、コレクター・エミッター間に電力を印加し、ジャンクション温度を上昇させ、電力切断後再びベース・エミッター間に微少電流を流し、ベース・エミッター間電圧を計り、その差を求める測定装置です。 IGBT（Insulated ...
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