多孔度測定分析器

... CIQTEK クライマーBET比表面積・細孔径アナライザー仕様書 *試験性能 テストフラックス：2/4/6ステーション（オプション）、並列テスト 試験ガスN2、Ar、CO2、Kr、その他ガス。 測定範囲比表面積 0.0005 m2/g以上 細孔径：2～500nmの正確な分析、0.35～2nmのルーチン分析 全細孔容積：0.0001cc/g以上 試験精度 比表面積の再現性（RSD）≤1.0 %； 複数の細孔径の最も再現性の高い偏差 ≤ 0.15 nm 分圧範囲10-5 ~ 0.999 脱気：独立したサンプル前処理装置、独立した6グループの温度制御 温度制御範囲：室温~400℃、温度制御精度：±0.1 ソフトウェア機能 分析モデルBET表面積、ラングミュア表面積、t-プロット分析、BJH、HK、SF、DR/DA、MP法、NLDFT細孔分布 ハードウェア構造 圧力センサー：1000Torr、精度<0.1%FS P0チューブ：各モジュールに個別のステンレス製P0チューブ 真空ポンプ：各モジュールに個別のステンレス鋼P0チューブ デュワー: ...

... > 試験機能 静的体積測定原理、吸着・脱着等温線測定、シングル・マルチポイントBET法、ラングミュア法、t-プロット外表面積測定；BJH全細孔容積・細孔分布分析、DR・DA充填理論、HK法による細孔分析、SF法による細孔分析、MP法による細孔分析、t-プロット細孔分析、真密度測定；強力なオンラインデータ解析システム、比表面積・細孔分布試験システムにより、より安定した正確な試験データを確保。 > 試験範囲 0.0005 (m2/g)～上限不明（比表面積）； 0.35 nm～500 nm、0.0001 ...

... EASY-V 1220は、CIQTEKが独自に開発した静的容積法によるBET比表面積・細孔径分析装置です。 比表面積測定：0.0005(m2/g)以上。 孔径分析：2 nm-500 nm。 分析ステーションを2台装備し、2サンプル同時測定が可能。 2段真空ポンプ搭載。 > 試験機能 静的体積測定原理、吸着・脱着等温線測定、単一・多点BET法、ラングミュア法、BJH全細孔容積・細孔分布分析、DR・DA充填理論、t-プロット外表面積測定、真密度測定; 強力なオンラインデータ解析システム、比表面積・細孔分布試験システムにより、より安定した正確な試験データが得られます。 > ...

... CIQTEK EASY-V 3220 & 3210は、静的容積測定法を用いたBET比表面積・細孔径分析装置です。 比表面積測定：0.0005(m2/g)以上。 孔径分析：0.35nm～2nm（ミクロ孔）、ミクロ孔径分布分析；2nm～500nm（メソ孔またはマクロ孔）。 2つの分析ステーションEASY-V 3220：2サンプル同時測定、EASY-V 3210：2サンプル交互測定。 分子ポンプ搭載。 安全で安定した検査用コンピュータ内蔵。10インチ静電容量式タッチスクリーン、タブレット操作体験。 1つの試験モジュールにつき、2つのサンプル管継手と1つのP0管継手を装備。P0パイプは、比表面積試験にコスト効率よく使用できます。 保護安全ドアは、低温液体窒素との偶発的な接触による安全事故を防止し、試験への環境要因の影響を排除することができます。 独立した2つのサンプル処理ポートは、サンプル試験と同時に実行でき、試験効率を向上させます。 4Lステンレス製デュワー瓶は、ガラス製デュワー瓶の壊れやすい欠点を克服し、高い断熱性により、72時間以上の連続試験が可能です。 ステッピングモーターによって制御されるボールねじの統合された持ち上がるシステムは詰まること容易な一般的なねじタイプの欠点を、等買収します。 ...