Câmera industrial PV Inspector

de emissão óptica por centelhamentopara inspeçãoNIR

A câmara NIR Andors PV Inspetor foi concebida para oferecer o melhor desempenho em termos de velocidade e sensibilidade para a inspeção em linha de eletroluminescência e fotoluminescência, fornecendo > 90% QE para além dos 800 nm e incorporando a Fringe Suppression Technology™ para minimizar os efeitos de franja no NIR - QE > 90% para além de 800 nm - Velocidades de leitura de 5 MHz e 3 MHz - Modo de anel de exposição dupla - Tecnologia de supressão de franjas ™ - UltraVac A câmara PV Inspetor NIR da Andor foi concebida para oferecer o melhor desempenho em termos de velocidade e sensibilidade para a inspeção de eletroluminescência e fotoluminescência em linha, fornecendo > 90% QE para além de 800 nm e incorporando a Fringe Suppression Technology™ para minimizar os efeitos de franjas no NIR. A matriz de 1024 x 1024 possui píxeis de 13 μm de alta resolução e beneficia de uma corrente escura insignificante com arrefecimento termoelétrico até -70°C. O PV Inspetor oferece o rendimento mais elevado da indústria através de velocidades de leitura rápidas até 5 MHz, combinadas com um "modo de anel de exposição dupla" único que permite uma comutação rápida da exposição. Uma porta USB 2.0 bloqueável assegura uma conetividade segura e resistente a vibrações. A sensibilidade NIR melhorada e os modos exclusivos de alta velocidade do PV Inspetor permitem a inspeção EL de dupla exposição a taxas superiores a 1 célula por segundo, o que é ideal para sistemas de inspeção PV de elevado rendimento, como os que se encontram em stringers e classificadores de células. A rápida obtenção de imagens de dupla exposição permite a medição quantitativa de células sob diferentes níveis de polarização.