Difratômetro de raios X D8 DISCOVER

Os D8 DESCOBREM com projeto de DAVINCI aumentam a acessibilidade com detecção componente do tempo real, funcionalidade apto para a utilização e integrado inteiramente 2 capacidades XRD2 dimensionais. Estas características originais permitem que o usuário comute facilmente entre todas as aplicações da difração de raio X da pesquisa dos materiais, incluindo o reflectometry, a difração de alta resolução, difração da incidência de pastagem do em-plano (IP-GID), dispersão de raio X pequena do ângulo (SAXS), assim como investigações do esforço residual e da textura. Detector VÅNTEC-500 bidimensional Para um 2-D detector, o tamanho é a característica a mais importante. Uma grande janela do detector permite não somente a velocidade aumentada do levantamento de dados, igualmente fornece a informação que não é simplesmente acessível com 0-D, 1-D ou os 2-D detectores menores. O detector VÅNTEC-500 caracteriza uma janela enorme de 140 milímetros do diâmetro, cobrindo até aproximadamente 80° (2θ) e uma grande γ-escala. Sistema ótico do raio X de SNAP-LOCK para o interruptor ferramenta-livre da geometria da difração O sistema ótico fábrica-alinhado, de SNAP-LOCK do raio X para fornecer a funcionalidade ‘apto para a utilização’ verdadeira, incluindo o interruptor automático e ferramenta-livre da geometria da difração a intervenção mínima do usuário. Um módulo do sistema ótico do raio X, um detector, ou todo o acessório montaram no instrumento registram-se no tempo real com seus parâmetros relevantes e capacidades analíticas, incluindo a detecção poderosa de conflitos componentes possíveis.