Plataforma de teste para semicondutor FTI-1000 Flexible Power

Plataforma de teste para semicondutor - FTI-1000 Flexible Power - Cosmic Equipment S.p.A.
Plataforma de teste para semicondutor - FTI-1000 Flexible Power - Cosmic Equipment S.p.A.
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Características

Outras características
para semicondutor

Descrição

Visão geral
FTI‑1000 Flexible é uma plataforma ATE multisite, compacta e modular, destinada a testes de alto mix de dispositivos discretos de potência média em Si e GaN. Configurada para 8–16 estações de teste, suporta até 1,2 kV e 100 A numa arquitetura de reduzido espaço, com recursos DC e AC independentes e medições abrangentes (características DC, ΔVsd, carga de gate, resistência de gate e comutação indutiva).

Propostas chave / posicionamento
  • Adaptável por design — arquitetura modular que permite rápida reconfiguração para diferentes tipos de dispositivo e requisitos de teste.
  • Alto rendimento — arquitetura base de 8 estações e sequenciamento de teste otimizado para reduzir o tempo de ciclo em produção mista.
  • Eficiência operacional — reduzida área ocupada e trocas rápidas de formato, adequada a P&D e produção automatizada.

Aplicações
Teste final e caracterização de dispositivos discretos para automóvel, indústria e wide‑bandgap (Si / GaN); validação de engenharia, testes UIS/avalanche e caracterização de gate.

Integração & software
A abertura mecânica e a modularidade permitem compatibilidade com handlers pick‑and‑place, gravity‑feed e leadframe strip. O desenvolvimento e o debug de testes são realizados via FTI Studio com captura de formas de onda, geração automática de fichas técnicas, schmoo plotting e ferramentas de análise de parâmetros.

Notas do produto
A arquitetura modular Tester‑per‑Channel Board fornece recursos AC e DC configuráveis numa única plataforma escalável. Opções plug‑in e elementos mecânicos/eléctricos modulares permitem expansão (extensões HV, módulos de pulso de alta corrente, digitizers, módulos de medição Rg).

Especificações técnicas
  • Família da plataforma: FTI‑1000 Flexible
  • Número de estações de teste: 8-16
  • Tensão máxima de comutação (AC / DC): 1,2 kV
  • Corrente máxima de comutação / DC: 100 A
  • Capacidade de energia em curto‑circuito: >10 J
  • Intervalo de tensão de gate: ±25 V
  • Testes paramétricos DC (exemplos): Rdson, Idon, Vce(sat), Vgs, Gfs, Igss, Idss, BVdss
  • Medições de óxido de gate e qualidade: Rg, Cg, Qg
  • Indicador de qualidade do die‑attach térmico: dVsd / Vgs
  • Métricas UIS / avalanche / diodo de corpo: UIL, EAR, EAS
  • Canais digitais: opção para 8 canais digitais independentes (IC Channel Board)
  • Opções de resistência de gate: 0, 10, 25, 50 Ω mais R plugável pelo utilizador
  • Indutor de carga: indutores discretos plug‑in ou caixa de indutores selecionável
  • Fonte DC – tensão (HV): 1,2 kV; exemplo de intervalo de pilotagem de corrente HV: 25 mA
  • Capacidade nominal de corrente (DC/AC): 100 A
  • Dimensões (totais): 541 mm × 345 mm × 206 mm • Fonte de alimentação: 345 mm × 176 mm × 103 mm
  • Software (FTI Studio): captura de formas de onda, geração automática de fichas técnicas, schmoo plotting, análise de parâmetros, criação/debug de programas de teste
  • Compatibilidade de manuseio: pick‑and‑place, gravity‑feed, leadframe strip e outros handlers automáticos standard

Feiras de negócios

Próximas feiras onde poderá encontrar este fornecedor

PCIM Expo & Conference
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9-11 jun 2026 Nuremberg (Alemanha)

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    Semicon
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    10-13 nov 2026 Munich (Alemanha)

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