Sistema de inspeção por raios X X-8000

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O equipamento de teste de semicondutores electrónicos X-8000 pode ser utilizado para detetar semicondutores de chips de circuitos integrados, tais como BGA, IGBT, flip-chip e soldadura de componentes PCBA, testes de alta precisão em LED, fotovoltaicos e outras indústrias; amplamente utilizado em campos de fabrico industrial, tais como autopeças, testes de fundição, testes de qualidade de soldadura de vasos de pressão e tubos e análise de novos materiais; pode detetar defeitos em vários tipos de baterias, tais como baterias de energia, cilindros, embalagens flexíveis, conchas quadradas e laminados, etc. Características do Sistema de Inspeção por Raios X para Semicondutores： 1. O palco pode se mover ao longo das direções X e Y, o detetor e o tubo de luz podem se mover ao longo da direção Z, e a velocidade pode ser dividida em lenta, média e rápida. 2. O alcance efetivo de deteção é maior, e a ampliação e a eficiência de deteção do produto são melhoradas. 3. É fácil identificar os defeitos da inclinação lateral do produto e realizar a deteção sem ângulo morto. 4. Adopta a melhor fonte de raios X japonesa Hamamatsu do mundo. 5. É fácil identificar a flexão e a quebra de fios de ouro em embalagens de semicondutores. 6. Programa de deteção editável para realizar a deteção automática CNC. 7. É adequado para a deteção em massa, melhora a eficiência da deteção e avalia automaticamente os produtos NG. 8. A janela de navegação automática super grande, o palco pode ser movido para a posição apontada clicando no rato. 9. A operação é muito conveniente, e o defeito do item pode ser encontrado rapidamente, o que melhora a eficiência da deteção. 10. Elevada segurança, com certificado CE da UE, sistema internacional de gestão da qualidade ISO e certificado AERB para raios X.