Máquinas de inspeção para semicondutores

3 empresas | 3 produtos
{{#pushedProductsPlacement4.length}} {{#each pushedProductsPlacement4}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement4.length}}
{{#pushedProductsPlacement5.length}} {{#each pushedProductsPlacement5}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement5.length}}
máquina de inspeção de raios X
máquina de inspeção de raios X
Phoenix

Soluções de inspeção NDT para eletrônica Phoenix Microme|x Neo e Nanome|x Neo O Phoenix Microme|x Neo e o Nanome|x Neo oferecem tecnologia de raio X 2D em alta resolução, PlanarCT e tomografia computadorizada (TC) ...

máquina de inspeção de raios X
máquina de inspeção de raios X
XT V 130C

... O XT V 130C é um sistema de inspeção de eletrônicos e semicondutores altamente flexível e econômico. O sistema inclui uma fonte fabricada pela Nikon Metrology de 130 kV/10 watts, um design de tubo aberto ...

máquina de inspeção automática
máquina de inspeção automática
Proforma 300SA series

... inferior a 20K Ohm/cm Sobre o Sistema Metrológico Semi-Automatizado O Proforma 300iSA é um sistema de medição de bolachas semi-automatizado para materiais semi-condutores e semi-isolantes. Baseado na ...