Máquinas de inspeção para wafers

10 empresas | 17 produtos
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máquina de inspeção óptica
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LS series

... atinge alta sensibilidade e detecção de alta produção de pequenos contaminantes e vários tipos de defeitos em superfícies de wafer antes da aplicação de padrões. Defeitos da superfície das bolachas, tais como defeitos ...

máquina de inspeção CD-SEM
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CD-SEM CG5000

... repetibilidade, utilizando óptica eletrônica melhorada, processamento de imagem avançado e novo sistema de transferência de wafer. CG5000 também é capaz de melhorar a calibração automática, proporcionando estabilidade ...

máquina de inspeção para wafers
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2 - 5 mm

... O sistema de inspeção de borda de wafer mede a superfície do wafer com alta precisão usando três câmeras de processamento de imagem. Defeitos maiores que 300 nm são assim detectados com ...

máquina de inspeção automática
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Proforma 300SA series

... Digitalização completa da superfície do wafer para espessura, variação de espessura, arco, urdidura, sori, local e planicidade global Mede Espessura, TTV, Arco, Warp, Site e Planicidade Global. Características Sensores ...

máquina de inspeção óptica
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CIRCL™

... sistema CIRCL5 de última geração incluem: inspeção de defeitos no lado frontal do wafer; inspeção, perfil, metrologia e revisão de defeitos nas bordas do wafer; inspeção ...

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KLA - TENCOR
máquina de inspeção para wafers
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máquina de inspeção 3D
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ZTS 1000 series

... sem os limites dos sistemas de medição táctil. Medidas de Superfície Câmeras de alta resolução medem superfícies de amostras lisas e rugosas sem contato, caracterizando superfícies processadas mecanicamente, como espelhos, ...

máquina de inspeção automática
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Firefly® Series

... A série de inspeção Firefly oferece uma solução de inspeção automatizada para aplicações de alto desempenho como FPGA, CPU/GPU e servidores de rede, além de aplicações com baixa contagem de E/S: Drivers ...

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MRD-3100 series

... Bola AOI / Bump AOI Prodcut Apresentação Equipamento de inspecção de partículas da série MRD-3100 para produtos COG, FOG, e COF, particularmente para a detecção de defeitos de ligação do módulo de visualização LCD. Líder na indústria, ...

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EPYAOI-A200

... defeitos no processo de wafer após epitaxia. Baseado na tecnologia de processamento de imagem auto-desenvolvida e no software de cálculo de taxa de rendimento simulado, o EpyAOI-A100 poderia inspecionar e analisar defeitos ...