Sistemas de metrologia para wafers

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sistema de metrologia para wafers
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IMPULSE V

... CMP, deposição, etch e litho. Visão Geral do Produto Sistema IMPULSO V Com tolerâncias mais apertadas de wafer-to-wafer e de uniformidade dentro do wafer, estão a ser ...

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sistema de metrologia para wafers
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OCD

... A tecnologia OCD Solutions optimiza a capacidade total e a conectividade dos sistemas Atlas e IMPULSE para metrologia de dimensão crítica óptica (OCD) Visão Geral do Produto A tecnologia OCD da Onto ...

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sistema de metrologia para wafers
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NanoSpec® II

... Disponível nas configurações de mesa e autônomo, o sistema de análise de filmes Nanopsec II fecha o loop entre a atividade de engenharia e pesquisa e o uso final da produção de receitas e algoritmos de análise Visão ...

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sistema de metrologia para wafers
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IMPULSE+

... combinando alta sensibilidade com elevado rendimento para aplicações CMP, deposição, etch e litho. Um padrão de metrologia integrado, o sistema IMPULSE+ oferece a máxima sensibilidade e precisão às excursões ...

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Atlas® III+

... minces et OCD é a ferramenta de metrologia para a fabricação de dispositifs FinFET, gate-all-around (GAA) FET, 3D NAND e DRAM avancés. Ao alargar o desempenho da metrologia a níveis sub-angstrom de precisão ...

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sistema de metrologia para wafers
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The Atlas XP+

... ferramenta de metrologia para o FinFET de ponta, o FET de porta a porta (GAA), o NAND 3D, e o fabrico de dispositivos DRAM avançados. O sistema Atlas XP+ oferece uma ...

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sistema de metrologia para wafers
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IVS series

... linha. O sistema IVS é ideal para estas condições. O manuseamento versátil das wafer acomoda muitas variações na composição das wafer incluindo silício, carboneto de silício, quartzo, ...

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Echo™

... ultra-sónica Picosecond, ou tecnologia PULSE™, é o padrão da indústria para metrologia de filmes metálicos. O sistema Echo™ é a mais recente adição à família de produtos de metrologia ...

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sistema de metrologia para semicondutores
sistema de metrologia para semicondutores
QS1200™

... comprovada, e uma bandeja de wafer manual para acomodar wafers padrão SEMI de 100, 125, 150, 200, e 300mm de diâmetro. Peças de wafer de forma estranha, e fatias de silicone de 2mm de ...

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QS2200™

... Análise não destrutiva de bolachas Visão Geral do Produto O sistema QS2200 é uma ferramenta de metrologia FTIR especificamente projetada para análise não destrutiva de wafer. É utilizado ...

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Proforma 300i

... opcionais de medição de bolachas Wafer pára para uma centragem exacta Interface Ethernet Software de controlo remoto completo (compatível com Windows) Pastilhas de calibragem opcionais Sobre o Sistema ...

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PV-1000 series

... controlo Portas de comunicação Fast Ethernet para taxas de produção até 5 wafers por segundo Escalável para aumentar o número de varreduras de linhas de espessura E/S digital para interface ...

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XHEMIS EX-2000

... FERRAMENTA DE METROLOGIA XRR E FERRAMENTA DE METROLOGIA XRF PARA PRATOS BANCÁRIOS DE ATÉ 200 mm Espessura, densidade, rugosidade e composição dos filmes em bolachas de blanqueta Esta versátil ferramenta ...

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EVG®40 NT2

... colagem de wafer e litografia para os mercados de MEMS, nanotecnologia e semicondutores, revelou hoje o sistema automatizado de metrologia EVG®40 NT2, que fornece medições de sobreposição ...

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