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Espectrômetro de fluorescência de raios X X-RAY XDV®-µ
de fluorescênciade laboratóriode medição

espectrômetro de fluorescência de raios X
espectrômetro de fluorescência de raios X
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Características

Tipo
de fluorescência
Âmbito de utilização
de laboratório, de medição, para revestimento
Outras características
compacto, de fluorescência de raios X

Descrição

FischerSchope® XDV®-Μ de Fischer é um sistema decálculo do raio X, integrado com sistema ótico polycapillary do raio X. Esta unidade do sistema ótico é utilizada geralmente para aplicações automatizadas da medida. É usada igualmente para a avaliação geral de espessuras e de composições de revestimento em materiais e em estruturas compactos. Os campos de aplicação comuns o FischerSchope® XDV®-Μ podem ser usados dentro incluem placas de PC, leadframes, bolachas, fios finos, e mais. O FischerSchope® XDV®-Μ exibe uma escala larga de características análise-relacionadas. Isto inclui um sistema da microanálise através das funções da optimização, as 100-µm ou menos capacidades da análise, e níveis de intensidade detalhados. Igualmente caracteriza a < 1 taxa da incerteza de medida do nanômetro, e uma câmara da medida compete com uma parcela do entalhe (C-entalhe).

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Catálogos

* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.