Espectrômetro de fluorescência de raios X FISCHERSCOPE® XDV®-µ LD

automáticode mediçãode gama alta

O FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ LD é o instrumento XRF líder da indústria para aplicações de conectores e eletrônica. A distância de medição única de 12 mm permite medir peças de teste de forma complexa, tais como PCBs montados com uma altura de 140 mm. Realiza os pontos de medição mais pequenos com excelente estabilidade e alta intensidade. Um detector de desvio de silício de grande área, o capilar de alto desempenho de longa distância e o processador de pulso digital DPP+ integrado como padrão permitem medições precisas e repetíveis com altas taxas de contagem e tempos de medição curtos. Características • A maior distância de medição possível na sua classe com 12 mm • Altura das amostras até 14 cm • Tubo microfocus Ultra com ânodo de tungstênio para um melhor desempenho nos menores pontos com a µ-XRF; ânodo de molibdênio opcional • Filtro 4 vezes substituível • Detector de desvio de silício extremamente potente com 50 mm² de área para maior precisão em películas finas • Óptica policapilar de fabrico próprio para pontos de medição mais pequenos 60 μm FWHM, em tempos de medição curtos com alta intensidade • Processador de pulso digital DPP+ para maiores taxas de contagem, tempos de medição reduzidos ou melhor repetibilidade dos seus resultados de medição • Análise de elementos de S(16) a U(92), purga de hélio disponível, medição simultânea de até 24 elementos • Fase XY de alta precisão, programável com precisão de posicionamento de < 5 µm para o posicionamento mais preciso das amostras e reconhecimento automático de padrões, para a melhor precisão de repetibilidade