Espectrômetro de fluorescência de raios X FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®
de mediçãopara a indústria eletrônicaSDD

espectrômetro de fluorescência de raios X
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Características

Tipo
de fluorescência de raios X
Âmbito de utilização
de medição, para a indústria eletrônica
Tipo de detector
SDD

Descrição

Análise de fluorescência de raios-X para demandas sofisticadas O FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® é o melhor instrumento de medição de fluorescência de raios-X da série XDL . Como seus "irmãos mais novos", ele mede de cima para baixo, o que torna fácil e conveniente testar até mesmo amostras de formatos estranhos. pARA otimizar as condições de medição para sua tarefa, o FISCHERSCOPE X-RAY XDAL vem com colimadores e filtros substituíveis como equipamento padrão. Quanto mais exigente for a tarefa de medição, mais importante será o tipo de detector! O FISCHERSCOPE X-RAY XDAL portanto, oferece três detectores de semicondutores diferentes. O diodo PIN de silício é um detector de faixa média e adequado para medir vários elementos em uma área de medição relativamente grande. Quando equipado com um PIN, o XDAL costuma ser usado para inspecionar revestimentos de materiais duros. O detector de desvio de silício (SDD) de alta qualidade oferece melhor resolução de energia do que o diodo PIN de silício. Os espectrômetros XDAL assim equipados são usados ​​para resolver tarefas de medição complexas na indústria eletrônica: por exemplo, a medição de camadas de ligas finas ou análise de material de elementos muito semelhantes, como ouro e platina. Este é o instrumento XRF confiável para controle de qualidade com aplicativos ENIG e ENEPIG.

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* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.