Sistema de feixe de íons focalizado NX9000

Sistema de feixe de íons focalizado - NX9000 - Hitachi High-Tech Europe GmbH
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Descrição

Neste sistema único, as colunas Ga-FIB e FE-SEM estão em ângulo reto entre si. Esta configuração é ideal para aplicações em que grandes volumes (tecidos biológicos, materiais com grandes estruturas granulares, componentes de semicondutores, etc.) devem ser analisados em 3D sem distorção e com a mais alta resolução, mesmo com campos de visão muito amplos. a análise EBSD 3D também pode ser efectuada com uma amostra completamente estacionária, ou seja, sem movimento da amostra entre o corte FIB e a análise da camada EBSD.

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* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.