Detector derivação de silício Vortex®

de raios XdigitalCMOS

Os detectores de raios X de desvio de silício Vortex apresentam áreas activas entre 30 mm2 e 80 mm2. Os detectores Vortex são produzidos a partir de silício de elevada pureza, utilizando a mais avançada tecnologia de produção CMOS. Apresentam uma excelente resolução de energia (<130 eV FWHM a Mn Kα é típico) e uma elevada capacidade de taxa de contagem. Com um tempo de pico muito curto de 0,1 µs, é alcançada uma taxa de contagem de saída de 900 kcps. Uma caraterística única destes detectores é a sua capacidade de processar elevadas taxas de contagem com uma perda muito pequena na resolução de energia e um desvio mínimo do pico com a taxa de contagem. - Espectroscopia de fluorescência de raios X (XRF) a granel e microfluorescência - Micro XRF (tamanhos adicionais disponíveis num futuro próximo) - Difração de raios X (XRD) - Emissão de raios X induzida por partículas (PIXE) - Fluorescência de raios X de reflexão total (TXRF) - Aplicações de radiação de sincrotrão - Controlo de processos O Vortex funciona a uma temperatura próxima da ambiente e é arrefecido por um refrigerador termoelétrico (TEC), podendo ser submetido a ciclos tão frequentes quanto necessário sem qualquer degradação do desempenho do detetor. Os tempos de arrefecimento são normalmente inferiores a 2 minutos. Os sistemas de espetroscopia de raios X Vortex incluem uma unidade de deteção e uma caixa de controlo que inclui fontes de alimentação para o detetor, TEC e um processador de impulsos digitais opcional com o nosso software PI-SPEC. O detetor completo também contém um pré-amplificador sensível à carga e um sistema de estabilização da temperatura, que elimina as preocupações com a variação da temperatura ambiente.