Software de análise Waveline Map

gráficode posicionamentode metrologia

O software de análise Waveline Map 3D permite-lhe capturar dados específicos de perfil e superfície das suas peças - para além da medição da rugosidade Os sistemas de medição Waveline da Jenoptik podem ser utilizados para a medição de rugosidade ou contorno. Também oferecemos sistemas que combinam estas duas funções. Os sistemas de medição Waveline T8000, Surfscan e Nanoscan Jenoptik podem ser expandidos com software de análise 3D para topografia. O software Waveline Map permite renderizar a textura da superfície das peças como um gráfico para avaliação. Waveline Map é intuitivamente projetado e é fácil de operar. Os dados medidos, por exemplo, podem ser pré-processados no que diz respeito ao alinhamento, filtragem e remoção de formulários. Os recálculos automáticos são realizados assim que os passos de avaliação mudam. O sistema oferece amplas opções de filtragem metrológica e científica. O software de análise 3D está disponível em três versões: Basic, Expert e Premium. As versões Expert e Premium cumprem a norma ISO/TS 25178 para parâmetros 3D. Além do software, uma tabela de posicionamento em Y também é necessária para medições topográficas. Isto facilita o movimento necessário das peças. As mesas podem conter componentes de até 30kg de peso, e trabalham com uma precisão de guia de aproximadamente 5μm. Benefícios - Flexível: Pode ser usado em estações de medição para medição de rugosidade quando necessário - Simples: O software intuitivo é fácil de usar - Rápido: Recálculos automáticos após alterações nas etapas de avaliação - Modular: Três versões que se constroem uma sobre a outra Aplicações - Pesquisa e desenvolvimento: Estudos tribológicos para otimizar as funções de superfície