Máquina de inspeção óptica Candela® 6300 series
de superfíciecom disco rígidopara a indústria eletrônica

máquina de inspeção óptica
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Características

Tecnologia
óptica
Aplicações
de superfície, com disco rígido
Setor
para a indústria eletrônica

Descrição

Os sistemas de análise de superfície óptica da série Candela 6300 oferecem capacidades avançadas de metrologia e inspecção para substratos de armazenamento de dados em metal ou vidro e suportes acabados. À medida que os fabricantes de armazenamento de dados se esforçam por aumentar as capacidades de armazenamento dos dispositivos reduzindo ainda mais as alturas de voo das cabeças, o controlo da rugosidade da superfície do disco torna-se cada vez mais importante. A série 6300 de analisadores ópticos de superfície aproveita a maior cobertura de largura de banda espacial da indústria (0,22 - 2000µm) e o piso de ruído sub-Å para satisfazer os requisitos de medições abrangentes de rugosidade e micro-rugosidade. A série Candela 6300 de analisadores ópticos de superfícies aproveita a óptica multicanal patenteada, combinada com a tecnologia única de gestão da estabilidade do laser, para proporcionar poderosas capacidades de metrologia óptica de superfícies para o desbaste de arestas, uniformidade de textura/polimento, caracterização de HDI e inspecção de riscos e partículas. A tecnologia de varrimento óptico de ponta do sistema de inspecção e metrologia permite a metrologia completa da topografia de discos de superfície nas direcções radial e circunferencial e permite que os fabricantes utilizem uma única ferramenta para medir todo o espectro espacial. O aumento da potência do laser, o menor nível de ruído e o novo design óptico eliminam a necessidade de pulverizar substratos de vidro para a detecção de defeitos, permitindo a identificação de variações de rugosidade inferiores a 0,1Å. Comparando os analisadores ópticos de superfícies 6300 com outros sistemas, como os dispersómetros ou os sistemas de vibrometria Doppler a laser, a série 6300 é a melhor solução para dados radiais e circunferenciais e informações rápidas e completas sobre a topografia de superfícies em substratos e suportes ultra-lisos.

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