Suporte para microscópio XL Stand

O Leica XL Stand, solução modular, permite a inspeção de grandes amostras em altas ampliações estereoscópicas para aplicações como a inspeção de placas de circuito impresso, exame de ferramentas forenses ou de documentação e inspeção de TFT/LCD O estágio XY (opcional) tem um especial ESD mate com fixador de encaixe, que quando combinado com a grande placa base, aterra o sistema para evitar danos ESD em componentes eletrônicos sensíveis. A fase XY (opcional) suporta amostras de grandes dimensões até 400 X 450mm e a fase 300 X 300mm de distância de percurso lida com amostras de até 12" X 12" para que documentos até A4 possam ser inspecionados de uma só vez sem reposicionamento.