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Mesa de coordenadas XY EK 75 x 50 MR
com comando manualmanualde 2 eixos

Mesa de coordenadas XY - EK 75 x 50 MR - Märzhäuser Wetzlar - com comando manual / manual / de 2 eixos
Mesa de coordenadas XY - EK 75 x 50 MR - Märzhäuser Wetzlar - com comando manual / manual / de 2 eixos
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Características

Orientação
XY
Tipo
com comando manual, manual
Número de eixos
de 2 eixos
Outras características
de medição, para microscópio
Curso

MÁX: 75 mm
(2,953 in)

MÍN: 50 mm
(1,969 in)

Descrição

Visão geral do produto
  • Mesa de medição manual com sistema de medição integrado.


Número do artigo
  • 00-22-321-0000


Informações adicionais
  • mesa de medição manual
  • com sistema de medição integrado
  • superfície CERASIST® isenta de desgaste
  • acionamento coaxial ajustável em curso e atrito para manuseio ergonómico
  • para aplicações com luz refletida e transmitida
  • fornecida com suporte para lâminas 76 x 26 mm
  • inclui unidade de visualização PROFILER SCD


Acessórios
  • PROFILER SCD
  • suporte para lâminas


Microscópios compatíveis
  • Leica - DM2500 (microscópios verticais)
  • Nikon - Eclipse 50i (microscópios verticais)
  • Nikon - Eclipse 55i (microscópios verticais)
  • Nikon - Eclipse 80i (microscópios verticais)
  • Nikon - Eclipse E400 (microscópios verticais)
  • Nikon - Eclipse E600 (microscópios verticais)
  • Nikon - Eclipse LV100D / LV100DA (microscópios verticais)
  • Olympus - BX41 (microscópios verticais)
  • Olympus - BX41M (microscópios verticais)
  • Olympus - BX51 (microscópios verticais)
  • Olympus - BX51M (microscópios verticais)
  • Olympus - BX61 (microscópios verticais)
  • Olympus - BX61M (microscópios verticais)
  • Zeiss - Axio Imager (microscópios verticais)
  • Zeiss - Axioskop (microscópios verticais)
  • Leica - DM4 B (microscópios verticais)
  • Leica - DM4 M (microscópios verticais)
  • Leica - DM6 M (microscópios verticais)
  • Leica - DM6 B (microscópios verticais)
  • Zeiss - Axio Scope.A1 HAL 100 (microscópios verticais)
  • Zeiss - Axio Scope.A1 HAL 50 + LED (microscópios verticais)


Fichas técnicas
  • 00-22-321-0000_EK_75_50_MR_DE.pdf
  • 00-22-321-0000_EK_75_50_MR_EN.pdf


Caracteristicas / Especificações técnicas
  • Modelo: EK 75 x 50 MR
  • Número do artigo: 00-22-321-0000
  • Mesa de medição manual com sistema de medição integrado
  • Superfície CERASIST® isenta de desgaste
  • Acionamento coaxial ajustável em curso e atrito
  • Para aplicações com luz refletida e transmitida
  • Fornecida com suporte para lâminas 76 x 26 mm
  • Inclui unidade de visualização PROFILER SCD

Catálogos

EK 75 x 50 MR
EK 75 x 50 MR
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SPIE Photonics West San Francisco 2027
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