Interferômetro para medição de distância interferoMETER 5400-DS
ópticocompactode luz branca

Interferômetro para medição de distância - interferoMETER 5400-DS - MICRO-EPSILON - óptico / compacto / de luz branca
Interferômetro para medição de distância - interferoMETER 5400-DS - MICRO-EPSILON - óptico / compacto / de luz branca
Guardar nos favoritos
Comparar

Características

Aplicações
para medição de distância
Especificações
óptico, compacto, de alta precisão, de alta resolução, de luz branca

Descrição

Visão geral
O interferoMETER IMS5400-DS é um interferômetro de luz branca para medição absoluta de distância e deslocamento em ambientes industriais. O sistema combina medições absolutas com resolução nanométrica, um deslocamento de base relativamente grande e avaliação multipeak para estruturas transparentes e em camadas.

Características principais
  • Medições absolutas de distância com precisão nanométrica, adequadas ao controlo de perfis em degrau
  • Medição multi-peak para objetos transparentes (até 14 valores de distância simultâneos em modelos MP)
  • Sensores compactos e robustos, disponíveis com percurso do feixe a 90°
  • Taxa de medição até 6 kHz para processos de alta velocidade
  • Controlador robusto com arrefecimento passivo e opção de montagem em calha DIN
  • Configuração simplificada via interface web (sem necessidade de software)
  • Cabos de fibra ótica até 10 m para separação sensor/controlador
  • Integração industrial flexível com múltiplas interfaces e I/O


Funcionamento / Desempenho
O IMS5400-DS realiza medições absolutas de distância com resolução nanométrica e suporta avaliação multipeak para identificar várias superfícies refletoras em amostras transparentes ou estratificadas. As elevadas taxas de aquisição (até 6 kHz) e um pequeno diâmetro de ponto de medição (≈10 µm) permitem medições estáveis de perfis e detalhes finos, mesmo em peças em movimento. O controlador garante operação estável através de arrefecimento passivo e compensação ativa de temperatura; a configuração e a parametrização efetuam-se via interface web.

Especificações técnicas
  • Princípio de medição: interferometria de luz branca (medição absoluta de distância)
  • Resolução/Precisão: medições absolutas em nível nanométrico; linearidade típica ±50 nm (dependente do modelo)
  • Capacidade multipeak: até 13–14 valores de distância simultâneos (dependente do modelo)
  • Taxa de medição: até 6 kHz
  • Diâmetro do ponto: tipicamente ≈10 µm
  • Deslocamento de base: relativamente grande para um sensor compacto; variantes 90° disponíveis
  • Controlador: invólucro metálico robusto, arrefecimento passivo, montagem em calha DIN; funções de avaliação inteligentes
  • Configuração: interface web (sem necessidade de software cliente)
  • Interfaces: Ethernet, EtherCAT, RS422, saídas analógicas, entrada de sincronização, I/O digitais, entrada de encoder; PROFINET/EtherNet/IP via módulos opcionais
  • Separação sensor-controlador: cabos de fibra ótica até 10 m
  • Aplicações típicas: medição de distância/deslocamento de alta precisão, controlo de perfis, medição de espessura em vidro, integração em linhas de produção e ambientes de sala limpa/vácuo (versões VAC/UHV disponíveis)
* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.