Microscópio de força atômica LensAFM

de mediçãopara análisespara inspeção

O Nanosurf LensAFM é um microscópio de força atómica que vai ao encontro dos limites de resolução dos microscópios ópticos e dos profilómetros. É montado como uma lente objetiva normal, alargando assim a resolução e as capacidades de medição destes instrumentos. O LensAFM não só fornece informações de topografia de superfície 3D, como também pode ser utilizado para analisar várias propriedades físicas de uma amostra de medição. Integração perfeita Num número cada vez maior de situações, os investigadores procuram combinar técnicas de microscopia ótica e de força atómica. A facilidade de utilização, a capacidade de rastreio e os requisitos mínimos de preparação de amostras dos microscópios ópticos são quase inigualáveis. No entanto, quando a resolução de uma objetiva de 100x não é suficiente para examinar pequenas características para além da resolução do instrumento, o LensAFM entra em ação. O seu design excecionalmente pequeno e o mecanismo de montagem inteligente significam que basta rodar a torre do seu microscópio ótico ou profilómetro e executar o exame. Melhore a sua microscopia ótica com AFM para obter informações avançadas Uma vez que a resolução da microscopia ótica é limitada pelo comprimento de onda da luz, existe uma barreira na resolução que pode alcançar com o seu sistema ótico. Num número cada vez maior de aplicações, isto exige a combinação da microscopia ótica e da microscopia de força atómica. Para além disso, a AFM ultrapassa os problemas de caraterização de amostras transparentes ou de outras amostras difíceis de avaliar opticamente. Mas não é apenas a topografia grosseira de uma amostra que tem interesse: A AFM também permite adquirir conhecimentos sobre outras propriedades dos materiais,