Microscópio de força atômica NaioAFMde mediçãopara medição da rugosidade de superfíciesdidático
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Características
- Tipo
- de força atômica
- Aplicações técnicas
- de medição, para medição da rugosidade de superfícies, didático, para inspeção de superfícies
- Configuração
- compacto, de bancada, portátil
- Outras características
- com câmera digital, de alta resolução, de fácil instalação
- Resolução espacial
MÍN: 14 µm
MÁX: 70 µm
Descrição
O AFM líder em nanoeducação
Compacto e robusto
Fácil de usar
Valor real do dinheiro
O NaioAFM é o microscópio de força atômica ideal para nanoeducação e pesquisa básica em pequenas amostras. Este sistema AFM tudo-em-um proporciona um desempenho sólido e um manuseamento fácil, com uma etiqueta de preço e dimensões que se adaptam a qualquer pessoa e em qualquer lugar.
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VÍDEO
Catálogos
Nanosurf NaioAFM
4 Páginas
Isostage 300
2 Páginas
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* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.